Национальная программа обучения ВОИС по проведению экспертизы на национальной фазе PCT для патентных экспертов из Департамента патентов, промышленных образцов и товарных знаков Бангладеш
Wed Jul 10 14:35:00 CEST 2024
С 19 по 21 мая 2024 года на территории Департамента патентов, промышленных образцов и товарных знаков Бангладеш Всемирная организация интеллектуальной собственности (ВОИС) организовала национальную программу обучения совместно с Департаментом и при поддержке целевого фонда ВОИС Japan Industrial Property Global (ЦФ Japan IP Global).
Цель программы обучения состояла в распространении информации о вариантах проведения экспертизы, в частности, с целью повышения ее качества и эффективности путем использования результатов, полученных на международной и национальной фазах PCT, и развития и совершенствования потенциала патентных экспертов из Департамента в области обмена результатами, полученными в ходе экспертизы.
О программе обучения
Координацией, организацией и реализацией программы обучения занимался старший сотрудник по программе Секции по сотрудничеству в области экспертизы и обучения Отдела международного сотрудничества РСТ ВОИС г-н Тхэгын Ким.
Он читал лекции и обсуждал с экспертами Департамента различные темы, касающиеся патентной экспертизы по существу, в основном об обмене результатами работы и том, как эксперты могут использовать документы, которые готовятся по линии PCT, например отчеты о международном поиске и письменные сообщения, даже при условии, что Бангладеш еще не является Договаривающимся государством PCT. Лекции содержали многочисленные примеры из текущей практики, которые показывают, какие требования патентоспособности оцениваются в рамках PCT и национальной практики и каким образом осуществляется эта оценка.
Все участники программы обучения отметили информативность и полезность лекций, и ожидается, что они будут применять полученные знания и опыт в своей работе. Согласно опросу, проведенному по окончании программы обучения, слушатели программы остались весьма удовлетворены мероприятием.
