Topic 1: Challenges and Options in Patent Examination
Индекс документа | OMPI/PI/YAO/13/WWW/228403 |
Мероприятия по теме | OMPI/PI/YAO/13 |
Дата публикации | 21 января 2013 г. |
English | Topic 1: Challenges and Options in Patent Examination Mr. Lutz Mailänder, Head, Patent Information Section, Global Information Service, Global Infrastructure Sector, WIPO |