Об интеллектуальной собственности Обучение в области ИС Информационно-просветительская работа в области ИС ИС для ИС и ИС в области Информация о патентах и технологиях Информация о товарных знаках Информация о промышленных образцах Информация о географических указаниях Информация о новых сортах растений (UPOV) Законы, договоры и судебные решения в области ИС Ресурсы в области ИС Отчеты в области ИС Патентная охрана Охрана товарных знаков Охрана промышленных образцов Охрана географических указаний Охрана новых сортов растений (UPOV) Разрешение споров в области ИС Деловые решения для ведомств ИС Оплата услуг в области ИС Органы по ведению переговоров и директивные органы Сотрудничество в целях развития Поддержка инновационной деятельности Государственно-частные партнерства Организация Работа с ВОИС Подотчетность Патенты Товарные знаки Промышленные образцы Географические указания Авторское право Коммерческая тайна Академия ВОИС Практикумы и семинары Международный день ИС Журнал ВОИС Повышение осведомленности Тематические исследования и истории успеха Новости ИС Премии ВОИС Бизнеса Университетов Коренных народов Судебных органов Генетические ресурсы, традиционные знания и традиционные выражения культуры Экономика Гендерное равенство Глобальное здравоохранение Изменение климата Политика в области конкуренции Цели в области устойчивого развития Защита прав Передовых технологий Мобильных приложений Спорта Туризма PATENTSCOPE Патентная аналитика Международная патентная классификация ARDI – исследования в интересах инноваций ASPI – специализированная патентная информация Глобальная база данных по брендам Madrid Monitor База данных Article 6ter Express Ниццкая классификация Венская классификация Глобальная база данных по образцам Бюллетень международных образцов База данных Hague Express Локарнская классификация База данных Lisbon Express Глобальная база данных по ГУ База данных о сортах растений PLUTO База данных GENIE Договоры, административные функции которых выполняет ВОИС WIPO Lex – законы, договоры и судебные решения в области ИС Стандарты ВОИС Статистика в области ИС WIPO Pearl (терминология) Публикации ВОИС Страновые справки по ИС Центр знаний ВОИС Серия публикаций ВОИС «Тенденции в области технологий» Глобальный инновационный индекс Доклад о положении в области интеллектуальной собственности в мире PCT – международная патентная система Портал ePCT Будапештская система – международная система депонирования микроорганизмов Мадридская система – международная система товарных знаков Портал eMadrid Cтатья 6ter (гербы, флаги, эмблемы) Гаагская система – система международной регистрации образцов Портал eHague Лиссабонская система – международная система географических указаний Портал eLisbon UPOV PRISMA Посредничество Арбитраж Вынесение экспертных заключений Споры по доменным именам Система централизованного доступа к результатам поиска и экспертизы (CASE) Служба цифрового доступа (DAS) WIPO Pay Текущий счет в ВОИС Ассамблеи ВОИС Постоянные комитеты График заседаний Официальные документы ВОИС Повестка дня в области развития Техническая помощь Учебные заведения в области ИС Поддержка в связи с COVID-19 Национальные стратегии в области ИС Помощь в вопросах политики и законодательной деятельности Центр сотрудничества Центры поддержки технологий и инноваций (ЦПТИ) Передача технологий Программа содействия изобретателям (IAP) WIPO GREEN PAT-INFORMED ВОИС Консорциум доступных книг Консорциум «ВОИС для авторов» WIPO ALERT Государства-члены Наблюдатели Генеральный директор Деятельность в разбивке по подразделениям Внешние бюро Вакансии Закупки Результаты и бюджет Финансовая отчетность Надзор

Quality Management System for Patent Examination at the JPO - Mr. Hiromi Takaoka, Director, Quality Management Office, Japan Patent Office

Индекс документаWIPO/IP/TYO/17/2
Мероприятия по темеWIPO/IP/TYO/17
Дата публикации3 июля 2017 г.
EnglishQuality Management System for Patent Examination at the JPO - Mr. Hiromi Takaoka, Director, Quality Management Office, Japan Patent Office
Полная версия документа
Quality Management System for Patent Examination at the JPO - Mr. Hiromi Takaoka, Director, Quality Management Office, Japan Patent Office, single (pdf)
2659 KB
https://www3.wipo.int/contact/ru/area.jsp?area=meetings https://www.wipo.int/pressroom/ru/ https://www.wipo.int/tools/ru/disclaim.html https://www.wipo.int/en/web/privacy-policy/ https://www.wipo.int/ru/web/accessibility/ https://www.wipo.int/tools/ru/sitemap.html https://www3.wipo.int/newsletters/ru/ https://www.wipo.int/ru/web/podcasts/ https://www.wipo.int/news/ru/