Мероприятия по вопросам патентной статистики

1 - 7 / 7 Результаты поиска

WIPO-OECD Workshop on the Use of Patent Statistics

WIPO-OECD/STAT/04
11 октября по 12 октября 2004 г. (Женева, Швейцария)
The Workshop will focus on both empirical analysis and statistical issues, covering the following themes: spillovers and diffusion of knowledge, value of patents, new ways of using patent data to address policy issues, forecasting patent data, and patent statistics and indicators.