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Consulta > Español
Sistema de Madrid para el Registro Internacional de Marcas
Reseña de actividades de 2006
Datos, cifras y análisis exhaustivos del registro internacional de marcas.
Año de publicación: 2007
Reseña de actividades de 2007
Año de publicación: 2008
Reseña de actividades de 2008
Año de publicación: 2009
Reseña anual para el año 2002 sobre el PCT
Datos, cifras y análisis exhaustivos del sistema internacional de patentes.
Año de publicación: 2003
Reseña anual del PCT para 2003
Año de publicación: 2004
El sistema internacional de patentes en 2004
Reseña anual del PCT
Año de publicación: 2005
Revista de la OMPI, Nº 2/2015 (Abril)
La Revista de la OMPI ilustra el devenir de la propiedad intelectual, la creatividad y la innovación en el mundo.
Año de publicación: 2015
Modalidades de búsqueda y examen de patentes
Guía
Una de las importantes tareas de las oficinas de patentes consiste en decidir si se otorgará la patente o si se rechazará la solicitud, teniendo en cuenta los procedimientos y requisitos de patentabilidad contemplados en la legislación nacional aplicable. Tomar esas decisiones de manera precisa, eficaz y eficiente resulta una misión complicada, puesto que muchas oficinas de patentes reciben un volumen cada vez mayor de solicitudes de patente cuya complejidad va en aumento.
Año de publicación: 2014
Reseña anual del Sistema de La Haya - Registro internacional de dibujos y modelos industriales - 2015
Datos, cifras y análisis exhaustivos del registro internacional de dibujos y modelos industriales.
Reseña Anual del sistema de Madrid, 2015
Registro internacional de marcas