Статистика в области интеллектуальной собственности

Авторитетные статистические данные в области интеллектуальной собственности (ИС) являются важным инструментом для понимания тенденций в сфере коммерческой деятельности и развития технологии в мире.

Мы сотрудничаем с ведомствами ИС из разных стран в стремлении предоставить нашим пользователям самую актуальную мировую статистику в области ИС. Кроме того, мы публикуем статистические отчеты, посвященные общемировой деятельности в области ИС и использованию договоров ВОИС для охраны прав ИС на международном уровне.

Статистические данные ВОИС основаны на информации, получаемой из нескольких источников, включая

  • сведения относительно патентов, полезных моделей, товарных знаков, промышленных образцов и сортов растений, предоставляемые национальными/региональными ведомствами ИС в рамках ежегодно проводимого ВОИС обследования данных в области ИС;
  • сведения относительно географических указаний (ГУ), предоставляемые компетентными национальными/региональными органами (например, ведомством ИС, министерством сельского хозяйства и прочими органами) в рамках ежегодно проводимого ВОИС обследования данных в области ГУ;
  • сведения относительно творческих отраслей экономики, предоставляемые ведомствами авторского права, национальными издательскими ассоциациями и национальными реестрами правовых актов в рамках ежегодно проводимого ВОИС обследования состояния издательской отрасли;
  • данные, собранные ВОИС в процессе обработки международных заявок, поданных по процедуре Договора о патентной кооперации (PCT), Мадридской системы и Гаагской системы;
  • данные, полученные из базы PATSTAT, административную поддержку которой осуществляет Европейское патентное ведомство.

Пользователи статистических данных ВОИС соглашаются воздерживаться от дальнейшей публикации или реализации в коммерческих целях любых соответствующих сведений. Кроме того, если пользователи включают статистические данные ВОИС в какое-либо письменное произведение, они обязаны указать источник таких данных («Статистическая база данных ВОИС»).

Центр статистических данных по ИС

Центр статистических данных по ИС на базе ВОИС – это бесплатная онлайн-служба, обеспечивающая доступ к обширному фонду статистических данных о мировой деятельности в области ИС. Пользователи могут проводить поиск по многочисленным тематическим категориям, а также просматривать или скачивать как новейшие, так и архивные данные в зависимости от своих потребностей.

Данный сервис предназначен для специалистов в области ИС, исследователей и лиц, ответственных за принятие решений, из разных стран.

Дополнительная информация о Центре статистических данных по ИС | Статистика в области ИС до 1980 года

Краткий обзор статистических данных в области ИС

(фото: iStockphoto.com/9peaks)

Статистика по микроорганизмам

  • Количество депонированных штаммов/образцов, предоставленных в соответствии с правилом 11 Инструкции к Будапештскому договору - на основе информации, запрошенной ВОИС у международных органов депонирования в ежегодных опросниках. XLS

Статистические данные по географическим указаниям

Другие ресурсы

Таблица соответствия МПК

Разработанная ВОИС таблица соответствия технологиям по МПК позволяет соотнести индексы рубрик Международной патентной классификации (МПК) с 35 областями техники. Таблица регулярно обновляется и отражает все изменения в МПК.

  • Таблица соответствия МПК (7/2024) XLS
  • Концепция и методика составления таблицы соответствия МПК PDF, Concept and methodology behind the IPC concordance table

Глоссарий статистических терминов в области ИС

Глоссарий статистических терминов в области ИС поможет лучше понять основные специальные термины и понятия, встречающиеся в данных в области ИС.

Дополнительные данные об ИС

Ниже ВОИС публикует статистику в области ИС с 1883 по 1979 год, а также наборы данных, размер которых превышает допустимый предел для скачивания со страницы Центра статистических данных по ИС.

  • Статистика по патентам ZIP, Статистика по патентам
  • Статистика по полезным моделям ZIP, Статистика по полезным моделям
  • Статистика по товарным знакам ZIP, Статистика по товарным знакам
  • Статистика по промышленным образцам ZIP, Статистика по промышленным образцам
  • Статистика системы PCT (1985-1999 гг.) ZIP, Статистика системы PCT (1985-1999 гг.)
  • Показатели по образцам ZIP, Design indicators
  • Показатели по патентам ZIP, Patent indicators
  • Показатели по товарным знакам ZIP, Trademark indicators

Статистическая база данных Мадридской системы

Статистическая база данных Мадридской системы содержит библиографические данные международных регистраций, произведенных в рамках Мадридской системы. Данные Мадридской системы охватывают более ста стран и уникальны тем, что дают представление о процессе интернационализации брендов. База данных структурирована таким образом, чтобы отвечать потребностям научных исследователей и обеспечить разработчиков политики фактологической информацией, собранной на уровне заявителей.

Для получения дополнительной информации свяжитесь с нами

Экономика ИС

Охрана ИС стала важной частью национальной экономической политики. ВОИС стремится содействовать лучшему пониманию экономических последствий выбора того или иного варианта стратегии развития системы ИС.