عن الملكية الفكرية التدريب في مجال الملكية الفكرية إذكاء الاحترام للملكية الفكرية التوعية بالملكية الفكرية الملكية الفكرية لفائدة… الملكية الفكرية و… الملكية الفكرية في… معلومات البراءات والتكنولوجيا معلومات العلامات التجارية معلومات التصاميم الصناعية معلومات المؤشرات الجغرافية معلومات الأصناف النباتية (الأوبوف) القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية مراجع الملكية الفكرية تقارير الملكية الفكرية حماية البراءات حماية العلامات التجارية حماية التصاميم الصناعية حماية المؤشرات الجغرافية حماية الأصناف النباتية (الأوبوف) تسوية المنازعات المتعلقة بالملكية الفكرية حلول الأعمال التجارية لمكاتب الملكية الفكرية دفع ثمن خدمات الملكية الفكرية هيئات صنع القرار والتفاوض التعاون التنموي دعم الابتكار الشراكات بين القطاعين العام والخاص أدوات وخدمات الذكاء الاصطناعي المنظمة العمل مع الويبو المساءلة البراءات العلامات التجارية التصاميم الصناعية المؤشرات الجغرافية حق المؤلف الأسرار التجارية أكاديمية الويبو الندوات وحلقات العمل إنفاذ الملكية الفكرية WIPO ALERT إذكاء الوعي اليوم العالمي للملكية الفكرية مجلة الويبو دراسات حالة وقصص ناجحة في مجال الملكية الفكرية أخبار الملكية الفكرية جوائز الويبو الأعمال الجامعات الشعوب الأصلية الأجهزة القضائية الموارد الوراثية والمعارف التقليدية وأشكال التعبير الثقافي التقليدي الاقتصاد التمويل الأصول غير الملموسة المساواة بين الجنسين الصحة العالمية تغير المناخ سياسة المنافسة أهداف التنمية المستدامة التكنولوجيات الحدودية التطبيقات المحمولة الرياضة السياحة ركن البراءات تحليلات البراءات التصنيف الدولي للبراءات أَردي – البحث لأغراض الابتكار أَردي – البحث لأغراض الابتكار قاعدة البيانات العالمية للعلامات مرصد مدريد قاعدة بيانات المادة 6(ثالثاً) تصنيف نيس تصنيف فيينا قاعدة البيانات العالمية للتصاميم نشرة التصاميم الدولية قاعدة بيانات Hague Express تصنيف لوكارنو قاعدة بيانات Lisbon Express قاعدة البيانات العالمية للعلامات الخاصة بالمؤشرات الجغرافية قاعدة بيانات الأصناف النباتية (PLUTO) قاعدة بيانات الأجناس والأنواع (GENIE) المعاهدات التي تديرها الويبو ويبو لكس - القوانين والمعاهدات والأحكام القضائية المتعلقة بالملكية الفكرية معايير الويبو إحصاءات الملكية الفكرية ويبو بورل (المصطلحات) منشورات الويبو البيانات القطرية الخاصة بالملكية الفكرية مركز الويبو للمعارف الاتجاهات التكنولوجية للويبو مؤشر الابتكار العالمي التقرير العالمي للملكية الفكرية معاهدة التعاون بشأن البراءات – نظام البراءات الدولي ePCT بودابست – نظام الإيداع الدولي للكائنات الدقيقة مدريد – النظام الدولي للعلامات التجارية eMadrid الحماية بموجب المادة 6(ثالثاً) (الشعارات الشرفية، الأعلام، شعارات الدول) لاهاي – النظام الدولي للتصاميم eHague لشبونة – النظام الدولي لتسميات المنشأ والمؤشرات الجغرافية eLisbon UPOV PRISMA UPOV e-PVP Administration UPOV e-PVP DUS Exchange الوساطة التحكيم قرارات الخبراء المنازعات المتعلقة بأسماء الحقول نظام النفاذ المركزي إلى نتائج البحث والفحص (CASE) خدمة النفاذ الرقمي (DAS) WIPO Pay الحساب الجاري لدى الويبو جمعيات الويبو اللجان الدائمة الجدول الزمني للاجتماعات WIPO Webcast وثائق الويبو الرسمية أجندة التنمية المساعدة التقنية مؤسسات التدريب في مجال الملكية الفكرية الدعم المتعلق بكوفيد-19 الاستراتيجيات الوطنية للملكية الفكرية المساعدة في مجالي السياسة والتشريع محور التعاون مراكز دعم التكنولوجيا والابتكار نقل التكنولوجيا برنامج مساعدة المخترعين WIPO GREEN WIPO's PAT-INFORMED اتحاد الكتب الميسّرة اتحاد الويبو للمبدعين WIPO Translate أداة تحويل الكلام إلى نص مساعد التصنيف الدول الأعضاء المراقبون المدير العام الأنشطة بحسب كل وحدة المكاتب الخارجية المناصب الشاغرة المشتريات النتائج والميزانية التقارير المالية الرقابة
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القوانين المعاهدات الأحكام التصفح بحسب الاختصاص القضائي

المرسوم المؤرخ 26 أبريل 1993 بشأن حماية تصاميم المنتجات أشباه الموصلات (الحالة في 21 ديسمبر 2004)، سويسرا

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النص مُستبدل.  الذهاب إلى أحدث إصدار في ويبو لِكس
التفاصيل التفاصيل سنة الإصدار 2004 تواريخ بدء النفاذ : 1 يوليو 1993 الاعتماد : 26 أبريل 1993 نوع النص اللوائح التنفيذية الموضوع تصاميم الدوائر المتكاملة، المعلومات غير المكشوف عنها (الأسرار التجارية)، إنفاذ قوانين الملكية الفكرية والقوانين ذات الصلة

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النصوص الرئيسية النصوص ذات الصلة
النصوص الرئيسية النصوص الرئيسية بالألمانية Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (stand am 21. Dezember 2004)         بالفرنسية Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (état le 21 décembre 2004)         بالإيطالية Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (stato 21 dicembre 2004)        
 
 Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (stand am 21. Dezember 2004)

231.21Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

vom 26. April 1993 (Stand am 21. Dezember 2004)

Der Schweizerische Bundesrat, gestützt auf die Artikel 2 Absatz 2, 12 und 18 des Topographiengesetzes vom 9. Oktober 19921 (ToG) und auf Artikel 13 des Bundesgesetzes vom 24. März 19952 über Statut und Aufgaben des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum (IGEG),3

verordnet:

1. Abschnitt: Allgemeine Bestimmungen

Art. 1 Zuständigkeit 1 Der Vollzug der Verwaltungsaufgaben, die sich aus dem ToG ergeben, und der Vollzug dieser Verordnung sind Sache des Instituts für Geistiges Eigentum (Insti­ tut).4 2 Ausgenommen sind der Artikel 12 ToG sowie die Artikel 16–19 dieser Verord­ nung, deren Vollzug der Eidgenössischen Zollverwaltung obliegt.

Art. 2 Sprache 1 Eingaben an das Institut5 müssen in einer schweizerischen Amtssprache abgefasst sein. 2 Von Beweisurkunden, die nicht in einer Amtssprache abgefasst sind, kann das Institut unter Ansetzung einer Frist eine Übersetzung sowie eine Bescheinigung ihrer Richtigkeit verlangen; werden die verlangten Unterlagen nicht beigebracht, gelten die Beweisurkunden als nicht eingereicht.

AS 1993 1834 1 SR 231.2 2 SR 172.010.31 3 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996

(AS 1995 5156). 4 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996

(AS 1995 5156). 5 Ausdruck gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996

(AS 1995 5156). Diese Änd. ist im ganzen Erlass berücksichtigt.

1

231.21 Urheberrecht

Art. 2a6 Unterschrift 1 Eingaben müssen unterzeichnet sein. 2 Fehlt auf einer Eingabe die rechtsgültige Unterschrift, so wird das ursprüngliche Einreichungsdatum anerkannt, wenn eine inhaltlich identische und unterzeichnete Eingabe innerhalb eines Monats nach Aufforderung durch das Institut nachgereicht wird. 3 Die Anmeldung zum Registereintrag muss nicht unterzeichnet sein. Das Institut kann weitere Dokumente bestimmen, für welche die Unterschrift nicht nötig ist.

Art. 2b7 Elektronische Kommunikation 1 Das Institut kann die elektronische Kommunikation zulassen. 2 Es legt die technischen Einzelheiten fest und veröffentlicht sie in geeigneter Weise.

Art. 38 Gebühren Die Gebühren, die nach dem ToG oder nach dieser Verordnung erhoben werden, richten sich nach der Verordnung vom 25. Oktober 19959 über die Gebühren des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum.

2. Abschnitt: Anmeldeverfahren

Art. 4 Mehrere Anmelder und Anmelderinnen 1 Melden mehrere Personen eine Topographie an, so kann das Institut sie auffordern, eine von ihnen oder eine Drittperson als gemeinsame Vertreterin zu bezeichnen. 2 Solange trotz Aufforderung des Institutes keine Vertreterin bezeichnet ist, gilt die in der Anmeldung zuerst genannte Person als Vertreterin.

Art. 5 Unterlagen zur Identifizierung 1 Folgende Unterlagen sind zur Identifizierung und Veranschaulichung der Topogra­ phie zugelassen:

a. Zeichnungen oder Fotografien von Darstellungen (Layouts) zur Herstellung des Halbleitererzeugnisses;

b. Zeichnungen oder Fotografien von Masken oder Maskenteilen zur Herstel­ lung des Halbleitererzeugnisses;

6 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 7 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 8 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996

(AS 1995 5156). 9 [AS 1995 5174, 1997 773]. Heute: die Gebührenordnung des Eidgenössischen Instituts für

Geistiges Eigentum vom 28. April 1997 (SR 232.148).

2

Topographienverordnung 231.21

c. Zeichnungen oder Fotografien von einzelnen Schichten des Halbleitererzeug­ nisses.

2 Zusätzlich können Datenträger, auf denen in digitalisierter Form Darstellungen ein­ zelner Schichten von Topographien festgehalten sind, oder Computer-Ausdrucke davon sowie die Halbleitererzeugnisse selbst hinterlegt werden. 3 Die Unterlagen sind im Format DIN A4 (21×29,7 cm) oder auf dieses Format gefaltet einzureichen. Grossflächige Zeichnungen, Pläne oder Fotografien, die nicht gefaltet werden können, müssen in Zeichenrollen eingereicht werden, die höchstens 1,5 m lang und 15 cm dick sein dürfen. 4 Soweit das Institut die Unterlagen zur Identifizierung elektronisch entgegennimmt (Art. 2b), kann es von diesem Artikel abweichende Anforderungen festlegen; es veröffentlicht diese in geeigneter Weise.10

Art. 6 Unvollständige Anmeldung 1 Bei unvollständiger oder mangelhafter Anmeldung räumt das Institut dem Anmel­ der oder der Anmelderin eine Frist zur Vervollständigung der Anmeldung ein. 2 Ist der Mangel nach Ablauf der Frist nicht behoben, tritt das Institut auf die Anmel­ dung nicht ein.

3. Abschnitt: Das Topographienregister

Art. 7 Registerinhalt Das Institut trägt die folgenden Angaben in das Register ein:

a. die Eintragungsnummer; b. das Anmeldedatum; c. der Name oder die Firma sowie die Adresse der anmeldenden Person oder

deren Rechtsnachfolgerin; d. der Name und die Adresse des Herstellers oder der Herstellerin; e. die Bezeichnung der Topographie; f. das Datum und der Ort einer allfälligen ersten geschäftlichen Verbreitung der

Topographie; g.11 das Datum der Veröffentlichung; h. Änderungen des gewöhnlichen Aufenthaltes oder der geschäftlichen Nieder­

lassung der an der Topographie Berechtigten;

10 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 11 Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit

1. Juli 2002 (SR 232.121).

3

231.21 Urheberrecht

i. Verfügungsbeschränkungen von Gerichten oder Vollstreckungsbehörden; k. das Datum der Löschung.

Art. 8 Aktenheft Das Institut führt für jede Topographie ein Aktenheft.

Art. 9 Fabrikations- oder Geschäftsgeheimnis 1 Zu den Akten gegebene Beweisurkunden, die ein Fabrikations- oder Geschäfts­ geheimnis offenbaren, werden auf Antrag ausgesondert. 2 Unterlagen, die nach Artikel 5 zur Identifizierung dienen, dürfen nicht in ihrer Gesamtheit ausgesondert werden. 3 Auf ausgesonderte Urkunden wird im Aktenheft hingewiesen. 4 Über die Einsicht in ausgesonderte Urkunden entscheidet das Institut nach Anhö­ rung der an der Topographie Berechtigten, die im Register eingetragen sind.

Art. 10 Bescheinigung Nach der Eintragung stellt das Institut eine entsprechende Bescheinigung aus.

Art. 1112 Veröffentlichung 1 Das Institut veröffentlicht die im Register eingetragenen Angaben. 2 Es bestimmt das Publikationsorgan. 3 Auf Antrag und gegen Kostenersatz erstellt es Papierkopien von ausschliesslich elektronisch veröffentlichten Daten.13 4 ...14

Art. 12 Änderung und Löschung von Einträgen 1 Der Antrag auf Änderung von Registereintragungen (Art. 7 Bst. c, h oder i) ist gebührenpflichtig.15 2 Wird für dieselbe Topographie gleichzeitig die Eintragung mehrerer Änderungen beantragt, so ist nur die einfache Gebühr zu entrichten.16 3 Änderungen, die auf einem vollstreckbaren Gerichtsurteil oder auf einer Vollstre­ ckungsmassnahme beruhen, sowie Verfügungsbeschränkungen von Gerichten und Vollstreckungsbehörden werden gebührenfrei eingetragen. Es ist eine Kopie des Urteils mit Bescheinigung der Rechtskraft beizufügen.

12 Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 (SR 232.121).

13 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 14 Aufgehoben durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 15 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 16 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037).

4

Topographienverordnung 231.21

4 Änderungen werden im Aktenheft vorgemerkt, im Register eingetragen und vom Institut bescheinigt. 5 Die vollständige Löschung ist gebührenfrei. Für eine Teillöschung erhebt das Institut eine Gebühr.17

Art. 13 Berichtigung 1 Fehlerhafte Eintragungen werden auf Antrag der an der Topographie Berechtigten unverzüglich berichtigt. 2 Beruht der Fehler auf einem Versehen des Institutes, so erfolgt die Berichtigung von Amtes wegen.

Art. 14 Registerauszüge Das Institut erstellt auf Antrag und gegen Gebühr Auszüge aus dem Register.

Art. 15 Aufbewahrung und Rückgabe 1 Das Institut bewahrt die Akten sowie die hinterlegten Datenträger und Halbleiter­ erzeugnisse nach der gültigen Anmeldung während 20 Jahren auf. 2 Werden die Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach Ablauf der Aufbewah­ rungsfrist nicht zurückverlangt, kann sie das Institut auch ohne Antrag zurück­ schicken. Kann die Adresse der Berechtigten nicht ausfindig gemacht werden, so werden die hinterlegten Gegenstände zusammen mit den Akten vernichtet.

4. Abschnitt: Hilfeleistung der Zollverwaltung

Art. 1618 Umfang Die Hilfeleistung der Zollverwaltung erstreckt sich auf die Ein- und Ausfuhr von Halbleitererzeugnissen, bei denen der Verdacht besteht, dass ihre Verbreitung gegen die in der Schweiz geltende Gesetzgebung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen verstösst, sowie auf die Lagerung solcher Halbleitererzeug­ nisse in einem Zollager.

Art. 17 Antrag auf Hilfeleistung 1 Die Berechtigten müssen den Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion stellen. In dringenden Fällen kann der Antrag unmittelbar beim Zollamt gestellt wer­ den, bei dem verdächtige Halbleitererzeugnisse ein- oder ausgeführt werden sollen.19

17 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 3. Dez. 2004 (AS 2004 5037). 18 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995

(AS 1995 1779). 19 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995

(AS 1995 1779).

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231.21 Urheberrecht

2 Der Antrag gilt während zwei Jahren, wenn er nicht für eine kürzere Geltungsdauer gestellt wird. Er kann erneuert werden.

Art. 18 Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen 1 Behält das Zollamt Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt es sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten der Antragsteller oder der Antragstellerinnen einer Drittperson in Verwahrung. 2 Die Antragsteller oder die Antragstellerinnen sind berechtigt, die zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse zu besichtigen. Die zur Verfügung über die Halbleitererzeug­ nisse Berechtigten können an der Besichtigung teilnehmen. 3 Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise Absatz 2bis des BG vom 9. Oktober 199220 über das Urheberrecht und verwandte Schutzrechte fest, dass die Antragsteller oder Antragstellerinnen vorsorgliche Mass­ nahmen nicht erwirken können, so werden die Halbleitererzeugnisse sogleich freige­ geben.21

Art. 19 Gebühren Die Gebühren für die Behandlung des Antrags auf Hilfeleistung sowie für die Ver­ wahrung zurückbehaltener Halbleitererzeugnisse richten sich nach der Verordnung vom 22. August 198422 über die Gebühren der Zollverwaltung.

5. Abschnitt: Inkrafttreten

Art. 20 Diese Verordnung tritt am 1. Juli 1993 in Kraft.

20 SR 231.1 21 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995

(AS 1995 1779). 22 SR 631.152.1

6

 
 Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (état le 21 décembre 2004)

231.21Ordonnance sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (Ordonnance sur les topographies, OTo)

du 26 avril 1993 (Etat le 21 décembre 2004)

Le Conseil fédéral suisse, vu les art. 2, al. 2, 12 et 18 de la loi du 9 octobre 1992 sur les topographies, LTo)1, vu l’art. 13 de la loi fédérale du 24 mars 1995 sur le statut et les tâches de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (LIPI)2,3

arrête:

Section 1 Dispositions générales

Art. 1 Compétence 1 L’exécution des tâches administratives découlant de la LTo et l’application de la présente ordonnance incombent à l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (Institut).4 2 Toutefois, l’art. 12 LTo et les art. 16 à 19 de la présente ordonnance sont du ressort de l’Administration fédérale des douanes.

Art. 2 Langue 1 Les écrits adressés à l’Institut5 doivent être rédigés dans une langue officielle suisse. 2 Lorsque les documents remis à titre de preuve ne sont pas rédigés dans une langue officielle, l’Institut peut exiger, en impartissant un délai pour les produire, une traduction et une certification de conformité; en l’absence des pièces exigées, les documents remis à titre de preuve sont réputés ne pas avoir été produits.

Art. 2a Signature6 1 Les documents doivent être signés. 2 Lorsqu’un document n’est pas valablement signé, la date à laquelle celui-ci a été présenté est reconnue à condition qu’un document au contenu identique et signé soit fourni dans le délai d’un mois suivant l’injonction de l’Institut. 3 Il n’est pas obligatoire de signer la demande d’inscription au registre. L’Institut peut désigner d’autres documents qui ne doivent pas obligatoirement être signés.

Art. 2b Communication électronique7 1 L’Institut peut autoriser la communication électronique. 2 Il détermine les modalités techniques et les publie de façon appropriée.

Art. 3 Taxes8

L’ordonnance du 25 octobre 1995 sur les taxes de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle9 s’applique aux taxes prévues par la LTo et par la présente ordonnance.

Section 2 Procédure de dépôt de la demande d’inscription

Art. 4 Pluralité de requérants 1 Lorsque plusieurs personnes demandent l’inscription d’une topographie, l’Institut peut exiger qu’elles désignent l’une d’elles ou une tierce personne pour assurer la représentation commune auprès de l’Institut.

RO 1993 1834 1 RS 231.2 2 RS 172.010.31 3 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156). 4 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156). 5 Nouvelle expression selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le

1er janv. 1996 (RO 1995 5156). Il a été tenu compte de cette modification dans tout le présent texte. 6 Introduit par le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 7 Introduit par le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 8 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156). 9 [RO 1995 5174, 1997 773]. Voir actuellement le R du 28 avril 1997 sur les taxes de

l’Institut Fédéral de la Propriété Intellectuelle (RS 232.148).

1

2 Si, après injonction de l’Institut, aucun représentant n’a été désigné, la personne nommée la première dans la demande d’inscription assure la représentation commune.

Art. 5 Pièces d’identification 1 Les pièces nécessaires à l’identification et à la représentation concrète de la topographie sont les suivantes:

a. dessins ou photographies de représentations (layouts) servant à fabriquer le produit semi-conducteur; b. dessins ou photographies de masques ou de parties de masques servant à fabriquer le produit semi-conducteur; c. dessins ou photographies de différentes couches du produit semi-conducteur.

2 En outre, des supports de données sur lesquels sont enregistrés des couches de la topographie sous une forme digitale ou leur tirage sur papier ainsi que le produit semi-conducteur lui-même peuvent également être déposés. 3 Les pièces doivent être produites en format A4 (21 × 29,7 cm) ou pliées à ce format. Les dessins, les plans ou les photographies de grande surface qui ne peuvent pas être pliées, doivent être déposés sous forme de rouleaux dont la longueur et le diamètre n’excèdent pas 1,5 m et 15 cm respectivement. 4 Dans la mesure où l’Institut accepte que les pièces d’identification lui soient remises par voie électronique (art. 2b), il peut définir des exigences qui s’écartent de celles énoncées dans le présent article; il publie celles-ci de façon appropriée.10

Art. 6 Demande d’inscription incomplète 1 L’Institut impartit un délai au déposant pour compléter sa demande d’inscription, lorsqu’elle est incomplète ou lacunaire. 2 L’Institut n’entre pas en matière lorsque la demande d’inscription n’a pas été rectifiée à l’expiration du délai.

Section 3 Registre des topographies

Art. 7 Contenu du registre L’Institut inscrit au registre les indications suivantes:

a. le numéro d’enregistrement; b. la date de dépôt de la demande d’inscription; c. le nom ou la raison sociale ainsi que l’adresse du déposant ou de son successeur légal; d. le nom et l’adresse du producteur; e. la désignation de la topographie; f. la date et le lieu de l’éventuelle première mise en circulation commerciale de la topographie; g.11 la date de la publication; h. le changement du domicile habituel ou de l’établissement commercial de l’ayant droit; i. les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée; k. la date de la radiation.

Art. 8 Dossier L’Institut tient un dossier pour chaque topographie.

Art. 9 Secret de fabrication et d’affaires 1 Les documents remis à titre de preuve qui divulguent des secrets de fabrication ou d’affaires sont, sur demande, classés séparément lorsqu’ils sont versés au dossier. 2 Les pièces servant à l’identification de la topographie, mentionnées à l’art. 5, ne peuvent pas être dans leur totalité classées séparé- ment. 3 Le dossier fait état de l’existence des documents classés séparément. 4 Après avoir entendu les ayants droit inscrits au registre, l’Institut décide d’autoriser ou non la consultation des documents classés séparément.

Art. 10 Attestation Une fois l’enregistrement effectué, l’Institut délivre une attestation correspondante.

Art. 11 Publication12 1 L’Institut publie les indications inscrites au registre. 2 Il détermine l’organe de publication.

10 Introduit par le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 11 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs,

en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121). 12 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs,

en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).

2

3 Sur demande et contre indemnisation des frais, il établit des copies sur papier de données publiées exclusivement sous forme élec- tronique.13 4 ... 14

Art. 12 Modification et radiation d’inscriptions enregistrées 1 La modification d’inscriptions enregistrées (art. 7, let. c, h ou i) est soumise à une taxe. 15 2 Lorsque, pour une même topographie, l’enregistrement simultané de plusieurs modifications est requis, la taxe n’est perçue qu’une seule fois.16 3 Ne donne pas lieu au paiement d’une taxe l’enregistrement de modifications découlant d’un jugement entré en force ou de restric- tions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée. Une copie du jugement et une attestation d’entrée en force doivent être jointes à la demande de modification.

4 Les modifications sont versées au dossier, inscrites au registre et attestées par l’Institut. 5 La radiation totale n’est soumise à aucune taxe. Pour une radiation partielle, l’Institut prélève une taxe. 17

Art. 13 Rectification 1 A la demande des ayants droit, les erreurs affectant l’enregistrement sont rectifiées sans retard. 2 Lorsque l’erreur est imputable à l’Institut, elle est rectifiée d’office.

Art. 14 Extraits du registre Sur demande et moyennant le paiement d’une taxe, l’Institut établit des extraits du registre.

Art. 15 Conservation et restitution 1 L’Institut conserve les documents ainsi que les supports de données et les produits semi-conducteurs déposés pendant vingt ans à compter du dépôt de la demande d’inscription valable. 2 Les supports de données et les produits semi-conducteurs non réclamés à l’expiration du délai de conservation peuvent être restitués d’office. Lorsqu’il est impossible de trouver l’adresse des ayants droit, ils sont détruits en même temps que les documents.

Section 4 Intervention de l’Administration des douanes

Art. 16 Etendue18

L’intervention de l’Administration des douanes s’étend à l’importation et à l’exportation de produits semi-conducteurs lorsqu’il y a lieu de soupçonner que la mise en circulation de ces produits contrevient à la législation en vigueur en Suisse concernant la protec- tion des topographies de produits semi-conducteurs. Elle s’étend également à l’entreposage de tels produits dans un entrepôt doua- nier.

Art. 17 Demande d’intervention 1 Les ayants droit doivent déposer leur demande d’intervention auprès de la Direction générale des douanes. Dans les cas urgents, la demande peut être déposée directement auprès du bureau de douane par lequel les produits semi-conducteurs suspects doivent être importés ou exportés.19 2 La demande est valable deux ans à moins qu’elle ait été déposée pour une période plus courte. Elle peut être renouvelée.

Art. 18 Rétention 1 Lorsque le bureau de douane retient des produits semi-conducteurs, il en assume la garde moyennant le paiement d’une taxe ou confie cette tâche à un tiers au frais du requérant. 2 Le requérant est autorisé à examiner les produits semi-conducteurs retenus. La personne en droit de disposer des produits semi- conducteurs peut assister à l’examen.

13 Nouvelle teneur selon le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 14 Abrogé par le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 15 Nouvelle teneur selon le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 16 Nouvelle teneur selon le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 17 Introduit par le ch. I de l'O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 18 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 17 mai 1995, en vigueur depuis le 1er juillet 1995 (RO 1995 1779). 19 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 17 mai 1995, en vigueur depuis le 1er juillet 1995 (RO 1995 1779).

3

4

3 Lorsqu’il est établi, avant l’échéance des délais prévus à l’art. 77, al. 2 et 2bis, de la loi fédérale du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur et les droits voisins20, que le requérant n’est pas à même d’obtenir des mesures provisionnelles, les produits semi- conducteurs sont immédiatement libérés.21

Art. 19 Taxes Les taxes perçues pour une demande d’intervention ainsi que pour l’entreposage des produits semi-conducteurs sont fixées dans l’ordonnance du 22 août 1984 sur les taxes de l’Administration des douanes22.

Section 5 Entrée en vigueur

Art. 20 La présente ordonnance entre en vigueur le 1er juillet 1993.

20 RS 231.1 21 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 17 mai 1995, en vigueur depuis le 1er juillet 1995 (RO 1995 1779). 22 RS 631.152.1

 
 Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (stato 21 dicembre 2004)

231.21Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

del 26 aprile 1993 (Stato 21 dicembre 2004)

Il Consiglio federale svizzero, visti gli articoli 2 capoverso 2, 12 e 18 della legge federale del 9 ottobre 19921 sulle topografie (LTo); visto l’articolo 13 della legge federale del 24 marzo 19952 sullo statuto e sui compiti dell’Istituto federale della proprietà intellettuale (LIPI),3

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Sezione 1: Disposizioni generali

Art. 1 Competenza 1 L’esecuzione dei compiti amministrativi derivanti dalla LTo, nonché l’esecuzione della presente ordinanza, sono di competenza dell’Istituto della proprietà intellet­ tuale (Istituto).4 2 Fanno eccezione l’articolo 12 LTo e gli articoli 16 a 19 della presente ordinanza, la cui esecuzione è di competenza dell’Amministrazione delle dogane.

Art. 2 Lingua 1 Gli scritti indirizzati all’Istituto5 devono essere redatti in una lingua ufficiale sviz­ zera. 2 L’Istituto può esigere una traduzione nonché un attestato di conformità entro una determinata scadenza per i documenti probatori che non sono stati redatti in una lingua ufficiale; se gli atti richiesti non vengono forniti, i documenti probatori sono considerati non pervenuti.

RU 1993 1834 1 RS 231.2 2 RS 172.010.31 3 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). 4 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). 5 Espressione sostituita dal n. I dell’O del 25 ott. 1995, in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). Di detta modificazione è stato tenuto conto in tutto il presente testo.

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231.21 Proprietà intellettuale

Art. 2a6 Firma 1 Le domande e la documentazione devono essere firmate. 2 Mancando la firma legalmente valida su una domanda o un documento, la data di presentazione originaria è riconosciuta qualora una domanda o un documento identi­ co per contenuto e firmato sia fornito entro un mese dall’ingiunzione da parte del­ l’Istituto. 3 La firma sulla domanda d’iscrizione nel registro non è necessaria. L’Istituto può designare altri documenti per i quali non è necessaria la firma.

Art. 2b7 Comunicazione elettronica 1 L’Istituto può autorizzare la comunicazione elettronica. 2 Determina le modalità tecniche e le pubblica in modo adeguato.

Art. 38 Emolumenti Gli emolumenti esigibili giusta la LTo o la presente ordinanza si fondano sull’ordinanza del 25 ottobre 19959 sulle tasse dell’Istituto federale della proprietà intellettuale.

Sezione 2: Procedura di deposito della domanda d’iscrizione

Art. 4 Pluralità di richiedenti 1 Se più persone presentano una topografia, l’Istituto può invitarle a designare una di loro oppure una terza persona quale rappresentante comune. 2 Fintanto che non è designato alcun rappresentante nonostante l’invito dell’Istituto, è considerata rappresentante la prima persona figurante sulla domanda.

Art. 5 Documenti necessari all’identificazione 1 Ai fini dell’identificazione e della rappresentazione concreta della topografia sono ammessi i seguenti documenti:

a. disegni o fotografie di circuiti (layouts) per la produzione del prodotto a semiconduttori;

b. disegni o fotografie di maschere o parti di maschere per la produzione del prodotto a semiconduttori;

c. disegni o fotografie di singoli strati del prodotto a semiconduttori.

6 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 7 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 8 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 9 [RU 1995 5174, 1997 773]. Vedi ora Reg. del 28 apr. 1997 sulle tasse dell’Istituto

federale della proprietà intellettuale (RS 232.148).

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Topografie – O 231.21

2 Possono pure essere depositati supporti di dati che riportano singoli strati della topografia in forma digitalizzata oppure la relativa stampa su carta, nonché il pro­ dotto a semiconduttori stesso. 3 I documenti devono essere presentati nel formato DIN A4 (21×29,7 cm) oppure così piegati. I disegni, i piani o le fotografie a vasta superficie che non possono esse­ re piegati vanno presentati in rotoli che non devono eccedere 1,5 m di lunghezza e 15 cm di diametro. 4 Nella misura in cui autorizza l’inoltro elettronico dei documenti necessari all’iden­ tificazione (art. 2b), l’Istituto può definire esigenze divergenti da quelle previste nel presente articolo; pubblica tali esigenze in modo adeguato.10

Art. 6 Domanda incompleta 1 L’Istituto concede al richiedente un termine per completare una domanda d’iscri­ zione incompleta o lacunosa. 2 Se alla scadenza del termine la domanda non è stata rettificata, l’Istituto non entra nel merito.

Sezione 3: Registro delle topografie

Art. 7 Contenuto del registro L’Istituto inscrive i dati seguenti nel registro:

a. il numero di registrazione; b. la data del deposito della domanda; c. il nome o la ragione sociale nonché l’indirizzo del richiedente o del suo

avente causa; d. il nome e l’indirizzo del produttore; e. la designazione della topografia; f. la data e il luogo dell’eventuale prima commercializzazione della topografia; g.11 la data della pubblicazione; h. i cambiamenti della dimora abituale o della sede commerciale degli aventi

diritto alla topografia; i. le restrizioni della facoltà di disporre ordinate dai tribunali o dalle autorità

cui compete l’esecuzione forzata; k. la data della radiazione.

10 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 11 Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002

(RS 232.121).

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231.21 Proprietà intellettuale

Art. 8 Fascicolo dei documenti L’Istituto tiene un fascicolo per ogni topografia.

Art. 9 Segreto di fabbricazione e segreto d’affari 1 I documenti probatori messi agli atti, che rivelano segreti di fabbricazione o segreti d’affari, possono essere archiviati separatamente se ne è fatta richiesta. 2 I documenti che servono all’identificazione della topografia giusta l’articolo 5 non possono essere archiviati separatamente nella loro totalità. 3 Il fascicolo fa menzione dell’esistenza di documenti archiviati separatamente. 4 Dopo aver sentito gli aventi diritto alla topografia iscritti nel registro, l’Istituto decide se i documenti archiviati separatamente possono essere consultati o meno.

Art. 10 Attestato Una volta effettuata la registrazione, l’Istituto rilascia un attestato.

Art. 1112 Pubblicazione 1 L’Istituto pubblica i dati iscritti nel registro. 2 Esso designa l’organo di pubblicazione. 3 Su domanda e previo rimborso delle spese, l’Istituto esegue copie su carta dei dati pubblicati esclusivamente in forma elettronica.13

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Art. 12 Modifica e radiazione di iscrizioni nel registro 1 La richiesta di modifica di iscrizioni registrate (art. 7 lett. c, h o i) è soggetta a emolumento.15 2 Se per la stessa topografia è chiesta contemporaneamente la registrazione di più modifiche, è dovuto un unico emolumento.16 3 Per le modifiche determinate da una sentenza che ha forza esecutiva o da un prov­ vedimento esecutivo, nonché per le restrizioni della facoltà di disporre pronunciate da tribunali e autorità d’esecuzione non viene riscosso alcun emolumento. La richie­ sta di modifica deve essere corredata di una copia della sentenza e dell’attestato relativo all’esecutività.17

12 Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002 (RS 232.121).

13 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 14 Abrogato dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 15 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 16 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 17 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037).

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Topografie – O 231.21

4 Le modifiche sono riportate nel fascicolo, iscritte nel registro e attestate dall’Isti­ tuto. 5 La radiazione totale è esente da emolumenti. Per una radiazione parziale, l’Istituto riscuote un emolumento.18

Art. 13 Rettifica 1 Gli errori di registrazione vengono rettificati senza indugio su richiesta dell’avente diritto alla topografia. 2 Qualora l’errore fosse imputabile all’Istituto, la rettifica viene effettuata d’ufficio.

Art. 1419 Estratti del registro L’Istituto rilascia estratti del registro su richiesta e dietro pagamento di un emolu­ mento.

Art. 15 Conservazione e restituzione 1 L’Istituto conserva gli atti, nonché i supporti di dati e i prodotti a semiconduttori depositati per vent’anni a contare dalla data del deposito della domanda valevole. 2 I supporti di dati e i prodotti a semiconduttori di cui non viene richiesta la restitu­ zione dopo la scadenza del termine di conservazione possono essere restituiti d’ufficio. Qualora fosse impossibile stabilire l’indirizzo degli aventi diritto, gli oggetti depositati vengono distrutti insieme agli atti.

Sezione 4: Intervento dell’Amministrazione delle dogane

Art. 1620 Portata L’intervento dell’Amministrazione delle dogane copre l’importazione e l’esporta­ zione di prodotti a semiconduttori in merito ai quali esiste il sospetto che la messa in circolazione violi la legislazione vigente in Svizzera relativa alla protezione di topo­ grafie di prodotti a semiconduttori, nonché l’immagazzinamento di siffatti prodotti in un deposito doganale.

18 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 19 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 20 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995

(RU 1995 1779).

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231.21 Proprietà intellettuale

Art. 17 Domanda d’intervento 1 Gli aventi diritto devono presentare la domanda d’intervento alla Direzione gene­ rale delle dogane. In casi urgenti, la domanda può essere presentata direttamente all’ufficio doganale attraverso il quale si presume che i prodotti a semiconduttori sospetti siano importati o esportati.21 2 La domanda ha effetto per due anni, a meno che all’atto del deposito sia stata fissa­ ta una durata inferiore. La domanda è rinnovabile.

Art. 18 Ritenzione 1 Se l’ufficio doganale trattiene prodotti a semiconduttori, ne assume la custodia dietro pagamento di un emolumento oppure li affida a terzi, a spese del richieden­ te.22 2 Il richiedente è autorizzato ad esaminare i prodotti a semiconduttori trattenuti. Gli aventi diritto a disporre dei prodotti a semiconduttori possono assistere all’esame. 3 Qualora, prima della scadenza del termine previsto all’articolo 77 capoverso 2 e al capoverso 2bis legge del 9 ottobre 199223 sul diritto d'autore, risulti che il richiedente non possa ottenere provvedimenti cautelari, i prodotti a semiconduttori sono sbloc­ cati immediatamente.24

Art. 1925 Emolumenti Gli emolumenti riscossi per una domanda d’intervento, nonché per la custodia di prodotti a semiconduttori trattenuti, sono stabiliti nell’ordinanza del 22 agosto 198426 sulle tasse dell’amministrazione delle dogane.

Sezione 5: Entrata in vigore

Art. 20 La presente ordinanza entra in vigore il 1° luglio 1993.

21 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).

22 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 23 RS 231.1 24 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995

(RU 1995 1779). 25 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 26 RS 631.152.1

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