231.21Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)
vom 26. April 1993 (Stand am 28. Mai 2002)
Der Schweizerische Bundesrat,
gestützt auf die Artikel 2 Absatz 2, 12 und 18 des Topographiengesetzes vom 9. Oktober 19921 (ToG) und auf Artikel 13 des Bundesgesetzes vom 24. März 19952 über Statut und Aufgaben des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum (IGEG),3
verordnet:
1. Abschnitt: Allgemeine Bestimmungen
Art. 1 Zuständigkeit 1 Der Vollzug der Verwaltungsaufgaben, die sich aus dem ToG ergeben, und der Vollzug dieser Verordnung sind Sache des Instituts für Geistiges Eigentum (Insti tut).4
2 Ausgenommen sind der Artikel 12 ToG sowie die Artikel 16–19 dieser Verord nung, deren Vollzug der Eidgenössischen Zollverwaltung obliegt.
Art. 2 Sprache 1 Eingaben an das Institut5 müssen in einer schweizerischen Amtssprache abgefasst sein. 2 Von Beweisurkunden, die nicht in einer Amtssprache abgefasst sind, kann das Institut unter Ansetzung einer Frist eine Übersetzung sowie eine Bescheinigung ihrer Richtigkeit verlangen; werden die verlangten Unterlagen nicht beigebracht, gelten die Beweisurkunden als nicht eingereicht.
AS 1993 1834 1 SR 231.2 2 SR 172.010.31 3 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996
(AS 1995 5156). 4 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996
(AS 1995 5156). 5 Ausdruck gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996
(AS 1995 5156). Diese Änd. ist im ganzen Erlass berücksichtigt.
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231.21 Urheberrecht
Art. 36 Gebühren
Die Gebühren, die nach dem ToG oder nach dieser Verordnung erhoben werden, richten sich nach der Verordnung vom 25. Oktober 19957 über die Gebühren des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum.
2. Abschnitt: Anmeldeverfahren
Art. 4 Mehrere Anmelder und Anmelderinnen 1 Melden mehrere Personen eine Topographie an, so kann das Institut sie auffordern, eine von ihnen oder eine Drittperson als gemeinsame Vertreterin zu bezeichnen. 2 Solange trotz Aufforderung des Institutes keine Vertreterin bezeichnet ist, gilt die in der Anmeldung zuerst genannte Person als Vertreterin.
Art. 5 Unterlagen zur Identifizierung 1 Folgende Unterlagen sind zur Identifizierung und Veranschaulichung der Topogra phie zugelassen:
a. Zeichnungen oder Fotografien von Darstellungen (Layouts) zur Herstellung des Halbleitererzeugnisses;
b. Zeichnungen oder Fotografien von Masken oder Maskenteilen zur Herstel lung des Halbleitererzeugnisses;
c. Zeichnungen oder Fotografien von einzelnen Schichten des Halbleiter erzeugnisses.
2 Zusätzlich können Datenträger, auf denen in digitalisierter Form Darstellungen ein zelner Schichten von Topographien festgehalten sind, oder Computer-Ausdrucke davon sowie die Halbleitererzeugnisse selbst hinterlegt werden. 3 Die Unterlagen sind im Format DIN A4 (21×29,7 cm) oder auf dieses Format gefaltet einzureichen. Grossflächige Zeichnungen, Pläne oder Fotografien, die nicht gefaltet werden können, müssen in Zeichenrollen eingereicht werden, die höchstens 1,5 m lang und 15 cm dick sein dürfen.
Art. 6 Unvollständige Anmeldung 1 Bei unvollständiger oder mangelhafter Anmeldung räumt das Institut dem Anmel der oder der Anmelderin eine Frist zur Vervollständigung der Anmeldung ein. 2 Ist der Mangel nach Ablauf der Frist nicht behoben, tritt das Institut auf die Anmeldung nicht ein.
6 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156).
7 SR 232.148
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Topographienverordnung 231.21
3. Abschnitt: Das Topographienregister
Art. 7 Registerinhalt
Das Institut trägt die folgenden Angaben in das Register ein:
a. die Eintragungsnummer;
b. das Anmeldedatum;
c. der Name oder die Firma sowie die Adresse der anmeldenden Person oder deren Rechtsnachfolgerin;
d. der Name und die Adresse des Herstellers oder der Herstellerin;
e. die Bezeichnung der Topographie;
f. das Datum und der Ort einer allfälligen ersten geschäftlichen Verbreitung der Topographie;
g.8 das Datum der Veröffentlichung;
h. Änderungen des gewöhnlichen Aufenthaltes oder der geschäftlichen Nieder lassung der an der Topographie Berechtigten;
i. Verfügungsbeschränkungen von Gerichten oder Vollstreckungsbehörden;
k. das Datum der Löschung.
Art. 8 Aktenheft
Das Institut führt für jede Topographie ein Aktenheft.
Art. 9 Fabrikations- oder Geschäftsgeheimnis 1 Zu den Akten gegebene Beweisurkunden, die ein Fabrikations- oder Geschäfts geheimnis offenbaren, werden auf Antrag ausgesondert. 2 Unterlagen, die nach Artikel 5 zur Identifizierung dienen, dürfen nicht in ihrer Gesamtheit ausgesondert werden. 3 Auf ausgesonderte Urkunden wird im Aktenheft hingewiesen. 4 Über die Einsicht in ausgesonderte Urkunden entscheidet das Institut nach Anhö rung der an der Topographie Berechtigten, die im Register eingetragen sind.
Art. 10 Bescheinigung
Nach der Eintragung stellt das Institut eine entsprechende Bescheinigung aus.
Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 (SR 232.121).
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231.21 Urheberrecht
Art. 119 Veröffentlichung 1 Das Institut veröffentlicht die im Register eingetragenen Angaben. 2 Es bestimmt das Publikationsorgan. 3 Die Veröffentlichung kann auch in elektronischer Form erfolgen. 4 Die elektronische Veröffentlichung ist nur dann massgebend, wenn die Daten aus schliesslich elektronisch veröffentlicht werden.
Art. 12 Änderung und Löschung von Einträgen 1 Der Antrag auf Änderung von Registereintragungen (Art. 7 Bst. c, h oder i) sowie der Antrag auf vollständige oder teilweise Löschung einer eingetragenen Topo graphie ist schriftlich einzureichen. 2 Für jeden Änderungsantrag muss eine vom Institut in Rechnung gestellte Gebühr bezahlt werden.10
3 Änderungen, die auf einem vollstreckbaren Gerichtsurteil oder auf einer Vollstre ckungsmassnahme beruhen, sowie Verfügungsbeschränkungen von Gerichten und Vollstreckungsbehörden werden gebührenfrei eingetragen. Es ist eine Kopie des Urteils mit Bescheinigung der Rechtskraft beizufügen. 4 Änderungen werden im Aktenheft vorgemerkt, im Register eingetragen und vom Institut bescheinigt.
Art. 13 Berichtigung 1 Fehlerhafte Eintragungen werden auf Antrag der an der Topographie Berechtigten unverzüglich berichtigt. 2 Beruht der Fehler auf einem Versehen des Institutes, so erfolgt die Berichtigung von Amtes wegen.
Art. 14 Registerauszüge
Das Institut erstellt auf Antrag und gegen Gebühr Auszüge aus dem Register.
Art. 15 Aufbewahrung und Rückgabe 1 Das Institut bewahrt die Akten sowie die hinterlegten Datenträger und Halbleiterer zeugnisse nach der gültigen Anmeldung während 20 Jahren auf. 2 Werden die Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach Ablauf der Aufbewah rungsfrist nicht zurückverlangt, kann sie das Institut auch ohne Antrag zurück schicken. Kann die Adresse der Berechtigten nicht ausfindig gemacht werden, so werden die hinterlegten Gegenstände zusammen mit den Akten vernichtet.
9 Fassung gemäss Anhang Ziff. 1 der Designverordnung vom 8. März 2002, in Kraft seit 1. Juli 2002 (SR 232.121).
10 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156).
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Topographienverordnung 231.21
4. Abschnitt: Hilfeleistung der Zollverwaltung
Art. 1611 Umfang
Die Hilfeleistung der Zollverwaltung erstreckt sich auf die Ein- und Ausfuhr von Halbleitererzeugnissen, bei denen der Verdacht besteht, dass ihre Verbreitung gegen die in der Schweiz geltende Gesetzgebung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen verstösst, sowie auf die Lagerung solcher Halbleitererzeug nisse in einem Zollager.
Art. 17 Antrag auf Hilfeleistung 1 Die Berechtigten müssen den Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion stellen. In dringenden Fällen kann der Antrag unmittelbar beim Zollamt gestellt wer den, bei dem verdächtige Halbleitererzeugnisse ein- oder ausgeführt werden sollen.12
2 Der Antrag gilt während zwei Jahren, wenn er nicht für eine kürzere Geltungsdauer gestellt wird. Er kann erneuert werden.
Art. 18 Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen 1 Behält das Zollamt Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt es sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten der Antragsteller oder der Antragstellerinnen einer Drittperson in Verwahrung. 2 Die Antragsteller oder die Antragstellerinnen sind berechtigt, die zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse zu besichtigen. Die zur Verfügung über die Halbleitererzeug nisse Berechtigten können an der Besichtigung teilnehmen. 3 Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise Absatz 2bis URG fest, dass die Antragsteller oder Antragstellerinnen vorsorgliche Massnahmen nicht erwirken können, so werden die Halbleitererzeugnisse sogleich freigegeben.13
Art. 19 Gebühren
Die Gebühren für die Behandlung des Antrags auf Hilfeleistung sowie für die Ver wahrung zurückbehaltener Halbleitererzeugnisse richten sich nach der Verordnung vom 22. August 198414 über die Gebühren der Zollverwaltung.
11 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995 (AS 1995 1779).
12 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995 (AS 1995 1779).
13 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 17. Mai 1995, in Kraft seit 1. Juli 1995 (AS 1995 1779).
14 SR 631.152.1
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231.21 Urheberrecht
5. Abschnitt: Inkrafttreten
Art. 20
Diese Verordnung tritt am 1. Juli 1993 in Kraft.
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Ordonnance sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (Ordonnance sur les topographies, OTo)
du 26 avril 1993
231.21
TABLE DES MATIèRES
Article
Section 1 : Dispositions générales
Compétence 1er
Langue 2
Taxes 3
Section 2 : Procédure de dépôt de la demande d’inscription
Section 3 : Registre des topographies
Section 4 : Intervention de l’Administration des douanes
Le Conseil fédéral suisse,
vu les articles 2, 2e alinéa, 12 et 18 de la loi du 9 octobre 19921 sur les topographies, LTo);
vu l’article 13 de la loi fédérale du 24 mars 19952 sur le statut et les tâches de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (LIPI),3
arrête :
Section 1
Dispositions générales
1er.— L’exécution des tâches administratives découlant de la LTo et l’application de la présente ordonnance incombent à l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (Institut).4
2 Toutefois, l’article 12 LTo et les articles 16 à 19 de la présente ordonnance sont du ressort de l’Administration fédérale des douanes.
2. — 1 Les écrits adressés à l’Institut5 doivent être rédigés dans une langue officielle suisse.
2 Lorsque les documents remis à titre de preuve ne sont pas rédigés dans une langue officielle, l’Institut peut exiger, en impartissant un délai pour les produire, une traduction et une certification de conformité; en l’absence des pièces exigées, les documents remis à titre de preuve sont réputés ne pas avoir été produits.
3.6 L’ordonnance du 25 octobre 19957 sur les taxes de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle s’applique aux taxes prévues par la LTo et par la présente ordonnance.
Section 2
Procédure de dépôt de la demande d’inscription
4. — 1 Lorsque plusieurs personnes demandent l’inscription d’une topographie, l’Institut peut exiger qu’elles désignent l’une d’elles ou une tierce personne pour assurer la représentation commune auprès de l’Institut.
2 Si, après injonction de l’Institut, aucun représentant n’a été désigné, la personne nommée la première dans la demande d’inscription assure la représentation commune.
5. — 1 Les pièces nécessaires à l’identification et à la représentation concrète de la topographie sont les suivantes :
a. dessins ou photographies de représentations (layouts) servant à fabriquer le produit semi-conducteur;
b. dessins ou photographies de masques ou de parties de masques servant à fabriquer le produit semi-conducteur;
c. dessins ou photographies de différentes couches du produit semi-conducteur.
2 En outre, des supports de données sur lesquels sont enregistrés des couches de la topographie sous une forme digitale ou leur tirage sur papier ainsi que le produit semi-conducteur lui-même peuvent également être déposés.
3 Les pièces doivent être produites en format A4 (21 × 29,7 cm) ou pliées à ce format. Les dessins, les plans ou les photographies de grande surface qui ne peuvent pas être pliées, doivent être déposés sous forme de rouleaux dont la longueur et le diamètre n’excèdent pas 1,5 m et 15 cm respectivement.
Demande d’inscription incomplète
6. — 1 L’Institut impartit un délai au déposant pour compléter sa demande d’inscription, lorsqu’elle est incomplète ou lacunaire.
2 L’Institut n’entre pas en matière lorsque la demande d’inscription n’a pas été rectifiée à l’expiration du délai.
Section 3
Registre des topographies
7. L’Institut inscrit au registre les indications suivantes :
a. le numéro d’enregistrement;
b. la date de dépôt de la demande d’inscription;
c. le nom ou la raison sociale ainsi que l’adresse du déposant ou de son successeur légal;
d. le nom et l’adresse du producteur;
e. la désignation de la topographie;
f. la date et le lieu de l’éventuelle première mise en circulation commerciale de la topographie;
g.8 la date de la publication;
h. le changement du domicile habituel ou de l’établissement commercial de l’ayant droit;
i. les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée;
k. la date de la radiation.
8. L’Institut tient un dossier pour chaque topographie.
Secret de fabrication et d’affaires
9. — 1 Les documents remis à titre de preuve qui divulguent des secrets de fabrication ou d’affaires sont, sur demande, classés séparément lorsqu’ils sont versés au dossier.
2 Les pièces servant à l’identification de la topographie, mentionnées à l’article 5, ne peuvent pas être dans leur totalité classées séparément.
3 Le dossier fait état de l’existence des documents classés séparément.
4 Après avoir entendu les ayants droit inscrits au registre, l’Institut décide d’autoriser ou non la consultation des documents classés séparément.
10. Une fois l’enregistrement effectué, l’Institut délivre une attestation correspondante.
11.9 —1 L’Institut publie les indications inscrites au registre.
2 Il détermine l’organe de publication.
3 La publication peut se faire sous forme électronique.
4 La version électronique ne fait foi que si les données sont publiées exclusivement sous forme électronique.
Modification et radiation d’inscriptions enregistrées
12. — 1 La modification d’inscriptions enregistrées (art. 7, let. c, h ou i), de même que la radiation totale ou partielle de l’enregistrement d’une topographie doivent être demandées par écrit.
2 Toute demande de modification donne lieu au paiement de la taxe facturée par l’Institut.10
3 Ne donne pas lieu au paiement d’une taxe l’enregistrement de modifications découlant d’un jugement entré en force ou de restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée. Une copie du jugement et une attestation d’entrée en force doivent être jointes à la demande de modification.
4 Les modifications sont versées au dossier, inscrites au registre et attestées par l’Institut.
13. — 1 A la demande des ayants droit, les erreurs affectant l’enregistrement sont rectifiées sans retard.
2 Lorsque l’erreur est imputable à l’Institut, elle est rectifiée d’office.
14. Sur demande et moyennant le paiement d’une taxe, l’Institut établit des extraits du registre.
15. — 1 L’Institut conserve les documents ainsi que les supports de données et les produits semi-conducteurs déposés pendant vingt ans à compter du dépôt de la demande d’inscription valable.
2 Les supports de données et les produits semi-conducteurs non réclamés à l’expiration du délai de conservation peuvent être restitués d’office. Lorsqu’il est impossible de trouver l’adresse des ayants droit, ils sont détruits en même temps que les documents.
Section 4
Intervention de l’Administration des douanes
16.11 L’intervention de l’Administration des douanes s’étend à l’importation et à l’exportation de produits semi-conducteurs lorsqu’il y a lieu de soupçonner que la mise en circulation de ces produits contrevient à la législation en vigueur en Suisse concernant la protection des topographies de produits semi-conducteurs. Elle s’étend également à l’entreposage de tels produits dans un entrepôt douanier.
17. — 1 Les ayants droit doivent déposer leur demande d’intervention auprès de la Direction générale des douanes. Dans les cas urgents, la demande peut être déposée directement auprès du bureau de douane par lequel les produits semi-conducteurs suspects doivent être importés ou exportés.12
2 La demande est valable deux ans à moins qu’elle ait été déposée pour une période plus courte. Elle peut être renouvelée.
18. — 1 Lorsque le bureau de douane retient des produits semi-conducteurs, il en assume la garde moyennant le paiement d’une taxe ou confie cette tâche à un tiers au frais du requérant.
2 Le requérant est autorisé à examiner les produits semi-conducteurs retenus. La personne en droit de disposer des produits semi-conducteurs peut assister à l’examen.
3 Lorsqu’il est établi, avant l’échéance des délais prévus à l’article 77, alinéas 2 et 2bis, LDA, que le requérant n’est pas à même d’obtenir des mesures provisionnelles, les produits semi-conducteurs sont immédiatement libérés.13
19. Les taxes perçues pour une demande d’intervention ainsi que pour l’entreposage des produits semi-conducteurs sont fixées dans l’ordonnance du 22 août 198414 sur les taxes de l’Administration des douanes.
20. La présente ordonnance entre en vigueur le 1er juillet 1993.
1 RO 1993 1834
RS 231.2
2 RS 172.010.31
3 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156).
4 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156).
5 Nouvelle expression selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156). Il a été tenu compte de cette modification dans tout le présent texte.
6 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156).
7 RS 232.148
8 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs, en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).
9 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs, en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).
10 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156).
11 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 17 mai 1995, en vigueur depuis le 1er juillet 1995 (RO 1995 1779).
12 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 17 mai 1995, en vigueur depuis le 1er juillet 1995 (RO 1995 1779).
13 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 17 mai 1995, en vigueur depuis le 1er juillet 1995 (RO 1995 1779).
14 RS 631.152.1
231.21Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)
del 26 aprile 1993 (Stato 28 maggio 2002)
Il Consiglio federale svizzero,
visti gli articoli 2 capoverso 2, 12 e 18 della legge federale del 9 ottobre 19921 sulle topografie (LTo); visto l’articolo 13 della legge federale del 24 marzo 19952 sullo statuto e sui compiti dell’Istituto federale della proprietà intellettuale (LIPI),3
ordina:
Sezione 1: Disposizioni generali
Art. 1 Competenza 1 L’esecuzione dei compiti amministrativi derivanti dalla LTo, nonché l’esecuzione della presente ordinanza, sono di competenza dell’Istituto della proprietà intellet tuale (Istituto).4
2 Fanno eccezione l’articolo 12 LTo e gli articoli 16 a 19 della presente ordinanza, la cui esecuzione è di competenza dell’Amministrazione delle dogane.
Art. 2 Lingua 1 Gli scritti indirizzati all’Istituto5 devono essere redatti in una lingua ufficiale sviz zera. 2 L’Istituto può esigere una traduzione nonché un attestato di conformità entro una determinata scadenza per i documenti probatori che non sono stati redatti in una lin gua ufficiale; se gli atti richiesti non vengono forniti, i documenti probatori sono considerati non pervenuti.
RU 1993 1834 1 RS 231.2 2 RS 172.010.31 3 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996
(RU 1995 5156). 4 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996
(RU 1995 5156). 5 Espressione sostituita dal n. I dell’O del 25 ott. 1995, in vigore dal 1° gen. 1996
(RU 1995 5156). Di detta modificazione è stato tenuto conto in tutto il presente testo.
1
231.21 Proprietà intellettuale
Art. 36 Tasse
Le tasse esigibili giusta la LTo o la presente ordinanza si fondano sull’ordinanza del 25 ottobre 19957 sulle tasse dell’Istituto federale della proprietà intellettuale.
Sezione 2: Procedura di deposito della domanda d’iscrizione
Art. 4 Pluralità di richiedenti 1 Se più persone presentano una topografia, l’Istituto può invitarle a designare una di loro oppure una terza persona quale rappresentante comune. 2 Fintanto che non è designato alcun rappresentante nonostante l’invito dell’Istituto, è considerata rappresentante la prima persona figurante sulla domanda.
Art. 5 Documenti necessari all’identificazione 1 Ai fini dell’identificazione e della rappresentazione concreta della topografia sono ammessi i seguenti documenti:
a. disegni o fotografie di circuiti (layouts) per la produzione del prodotto a semiconduttori;
b. disegni o fotografie di maschere o parti di maschere per la produzione del prodotto a semiconduttori;
c. disegni o fotografie di singoli strati del prodotto a semiconduttori. 2 Possono pure essere depositati supporti di dati che riportano singoli strati della topografia in forma digitalizzata oppure la relativa stampa su carta, nonché il pro dotto a semiconduttori stesso. 3 I documenti devono essere presentati nel formato DIN A4 (21×29,7 cm) oppure così piegati. I disegni, i piani o le fotografie a vasta superficie che non possono esse re piegati vanno presentati in rotoli che non devono eccedere 1,5 m di lunghezza e 15 cm di diametro.
Art. 6 Domanda incompleta 1 L’Istituto concede al richiedente un termine per completare una domanda d’iscri zione incompleta o lacunosa. 2 Se alla scadenza del termine la domanda non è stata rettificata, l’Istituto non entra nel merito.
6 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996 (RU 1995 5156).
7 RS 232.148
2
Topografie – O 231.21
Sezione 3: Registro delle topografie
Art. 7 Contenuto del registro
L’Istituto inscrive i dati seguenti nel registro:
a. il numero di registrazione;
b. la data del deposito della domanda;
c. il nome o la ragione sociale nonché l’indirizzo del richiedente o del suo avente causa;
d. il nome e l’indirizzo del produttore;
e. la designazione della topografia;
f. la data e il luogo dell’eventuale prima commercializzazione della topografia;
g.8 la data della pubblicazione;
h. i cambiamenti della dimora abituale o della sede commerciale degli aventi diritto alla topografia;
i. le restrizioni della facoltà di disporre ordinate dai tribunali o dalle autorità cui compete l’esecuzione forzata;
k. la data della radiazione.
Art. 8 Fascicolo dei documenti
L’Istituto tiene un fascicolo per ogni topografia.
Art. 9 Segreto di fabbricazione e segreto d’affari 1 I documenti probatori messi agli atti, che rivelano segreti di fabbricazione o segreti d’affari, possono essere archiviati separatamente se ne è fatta richiesta. 2 I documenti che servono all’identificazione della topografia giusta l’articolo 5 non possono essere archiviati separatamente nella loro totalità. 3 Il fascicolo fa menzione dell’esistenza di documenti archiviati separatamente. 4 Dopo aver sentito gli aventi diritto alla topografia iscritti nel registro, l’Istituto decide se i documenti archiviati separatamente possono essere consultati o meno.
Art. 10 Attestato
Una volta effettuata la registrazione, l’Istituto rilascia un attestato.
Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002 (RS 232.121).
3
8
231.21 Proprietà intellettuale
Art. 119 Pubblicazione 1 L’Istituto pubblica i dati iscritti nel registro. 2 Esso designa l’organo di pubblicazione. 3 La pubblicazione può essere effettuata anche sotto forma elettronica. 4 La versione elettronica fa tuttavia fede soltanto se i dati sono pubblicati esclusiva mente sotto forma elettronica.
Art. 12 Modifica e radiazione di iscrizioni nel registro 1 Le richieste di modifica di iscrizioni registrate (art. 7 lett. c, h o i), nonché le richieste di radiazione totale o parziale di una topografia registrata devono essere presentate in forma scritta. 2 Per ogni richiesta di modifica deve essere corrisposta una tassa fatturata dall’Isti tuto.10
3 Per le modifiche determinate da una sentenza che ha forza esecutiva o da un prov vedimento esecutivo, nonché per le restrizioni della facoltà di disporre pronunciate da tribunali e autorità d’esecuzione non viene riscossa alcuna tassa. La richiesta di modifica deve essere corredata di una copia della sentenza e dell’attestato relativo all’esecutività. 4 Le modifiche sono riportate nel fascicolo, iscritte nel registro e attestate dall’Isti tuto.
Art. 13 Rettifica 1 Gli errori di registrazione vengono rettificati senza indugio su richiesta dell’avente diritto alla topografia. 2 Qualora l’errore fosse imputabile all’Istituto, la rettifica viene effettuata d’ufficio.
Art. 14 Estratti del registro
L’Istituto rilascia estratti del registro su richiesta e dietro pagamento di una tassa.
Art. 15 Conservazione e restituzione 1 L’Istituto conserva gli atti, nonché i supporti di dati e i prodotti a semiconduttori depositati per vent’anni a contare dalla data del deposito della domanda valevole. 2 I supporti di dati e i prodotti a semiconduttori di cui non viene richiesta la restitu zione dopo la scadenza del termine di conservazione possono essere restituiti d’ufficio. Qualora fosse impossibile stabilire l’indirizzo degli aventi diritto, gli oggetti depositati vengono distrutti insieme agli atti.
9 Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002 (RS 232.121).
10 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996 (RU 1995 5156).
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Topografie – O 231.21
Sezione 4: Intervento dell’Amministrazione delle dogane
Art. 1611 Portata
L’intervento dell’Amministrazione delle dogane copre l’importazione e l’esporta zione di prodotti a semiconduttori in merito ai quali esiste il sospetto che la messa in circolazione violi la legislazione vigente in Svizzera relativa alla protezione di topo grafie di prodotti a semiconduttori, nonché l’immagazzinamento di siffatti prodotti in un deposito doganale.
Art. 17 Domanda d’intervento 1 Gli aventi diritto devono presentare la domanda d’intervento alla Direzione gene rale delle dogane. In casi urgenti, la domanda può essere presentata direttamente all’ufficio doganale attraverso il quale si presume che i prodotti a semiconduttori sospetti siano importati o esportati.12
2 La domanda ha effetto per due anni, a meno che all’atto del deposito sia stata fissa ta una durata inferiore. La domanda è rinnovabile.
Art. 18 Ritenzione 1 Se l’ufficio doganale trattiene prodotti a semiconduttori, ne assume la custodia die tro pagamento di una tassa oppure li affida a terzi, a spese del richiedente. 2 Il richiedente è autorizzato ad esaminare i prodotti a semiconduttori trattenuti. Gli aventi diritto a disporre dei prodotti a semiconduttori possono assistere all’esame. 3 Qualora, prima della scadenza del termine previsto all’articolo 77 capoverso 2 e al capoverso 2bis LDA, risulti che il richiedente non possa ottenere provvedimenti cau telari, i prodotti a semiconduttori sono sbloccati immediatamente.13
Art. 19 Tasse
Le tasse riscosse per una domanda d’intervento, nonché per la custodia di prodotti a semiconduttori trattenuti, sono stabilite nell’ordinanza del 22 agosto 198414 sulle tasse dell’amministrazione delle dogane.
11 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).
12 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).
13 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 17 mag. 1995, in vigore dal 1° lug. 1995 (RU 1995 1779).
14 RS 631.152.1
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231.21 Proprietà intellettuale
Sezione 5: Entrata in vigore
Art. 20
La presente ordinanza entra in vigore il 1° luglio 1993.
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