Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)
Änderung vom 21. Mai 2008
Der Schweizerische Bundesrat verordnet:
I
Die Topographienverordnung vom 26. April 19931 wird wie folgt geändert:
Art. 16 Bereich Die Hilfeleistung der Zollverwaltung erstreckt sich auf das Verbringen von Halb leitererzeugnissen, bei denen der Verdacht besteht, dass ihre Verbreitung gegen die in der Schweiz geltende Gesetzgebung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen verstösst, ins oder aus dem Zollgebiet.
Art. 17 Abs. 1 1 Die Hersteller und Herstellerinnen oder die klageberechtigten Lizenznehmer und Lizenznehmerinnen (Antragsteller und Antragstellerinnen) müssen den Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion stellen.
Art. 18 Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen 1 Behält die Zollstelle Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt sie sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten des Antragstellers oder der Antragstellerin einer Drittperson in Verwahrung. 2 Sie teilt dem Antragsteller oder der Antragstellerin Name und Adresse der Anmel derin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers, eine genaue Beschreibung, die Menge sowie den Absender im In- oder Ausland der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse mit. 3 Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise 2bis des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 19922 fest, dass der Antragsteller oder die Antragstellerin keine vorsorgliche Massnahme erwirken kann, so gibt die Zollstelle die Halbleitererzeugnisse unverzüglich frei.
1 SR 231.21 2 SR 231.1
2008-0673 2543
Topographienverordnung AS 2008
Art. 18a Proben oder Muster 1 Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann die Zollverwaltung dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halb leitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen. 2 Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzoll direktion oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.
Art. 18b Wahrung von Fabrikations- und Geschäftsgeheimnissen 1 Die Zollverwaltung weist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin bezie hungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer der Halbleitererzeugnisse auf die Möglichkeit hin, einen begründeten Antrag auf Verweigerung der Entnahme von Proben oder Mustern zu stellen. Sie setzt ihr oder ihm für die Stellung des Antrags eine angemessene Frist. 2 Gestattet die Zollverwaltung dem Antragsteller oder der Antragstellerin die Besichtigung der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse, so nimmt sie bei der Festlegung des Zeitpunkts auf die Interessen des Antragstellers oder der Antragstel lerin und der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers angemessen Rücksicht.
Art. 18c Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse
1 Die Zollverwaltung bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 19923 auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert sie die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren bezie hungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungs weise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet die Zollverwal tung die Proben oder Muster. 2 Die Zollverwaltung kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotogra fien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.
SR 231.1
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Topographienverordnung AS 2008
Art. 19 Gebühren Die Gebühren für die Hilfeleistung der Zollverwaltung richten sich nach der Ver ordnung vom 4. April 20074 über die Gebühren der Zollverwaltung.
Diese Änderung tritt am 1. Juli 2008 in Kraft.
21. Mai 2008 Im Namen des Schweizerischen Bundesrates
Der Bundespräsident: Pascal Couchepin Die Bundeskanzlerin: Corina Casanova
SR 631.035
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Topographienverordnung AS 2008
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