Orden de 26 de abril de 1993 sobre la Protección de las Topografías de Productos Semiconductores (situación en fecha de 1 de julio de 2008), Suiza, WIPO Lex

Textos principales

Francés Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (état le 1er juillet 2008)

Italiano Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (stato 1° luglio 2008)

Ordonnance sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs

231.21

Ordonnance sur la protection des topographies de produitssemi-conducteurs

(Ordonnance sur les topographies, OTo)

du 26 avril 1993 (Etat le 1^er juillet 2008)

Le Conseil fédéral suisse,

vu les art. 2, al. 2, 12 et 18 de la loi du 9 octobre 1992 sur les topographies (LTo)1, vu l’art. 13 de la loi fédérale du 24 mars 1995 sur le statut et les tâches de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (LIPI)2,3

arrête:

Section 1 Dispositions générales

Art. 1 Compétence

1 L’exécution des tâches administratives découlant de la LTo et l’application de la présente ordonnance incombent à l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle (Institut).4

2 Toutefois, l’art. 12 LTo et les art. 16 à 19 de la présente ordonnance sont du ressort de l’Administration fédérale des douanes.

Art. 2 Langue

1 Les écrits adressés à l’Institut5 doivent être rédigés dans une langue officielle suisse.

2 Lorsque les documents remis à titre de preuve ne sont pas rédigés dans une langue officielle, l’Institut peut exiger, en impartissant un délai pour les produire, une traduction et une certification de conformité; en l’absence des pièces exigées, les documents remis à titre de preuve sont réputés ne pas avoir été produits.

RO 1993 1834 1

RS 231.2

RS 172.010.31 3 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996(RO 1995 5156).4 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996(RO 1995 5156).

5 Nouvelle expression selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996 (RO 1995 5156). Il a été tenu compte de cette modification dans tout le présent texte.

231.21 Droit d’auteur

Art. 2a6 Signature

1 Les documents doivent être signés.

2 Lorsqu’un document n’est pas valablement signé, la date à laquelle celui-ci a été présenté est reconnue à condition qu’un document au contenu identique et signé soit fourni dans le délai d’un mois suivant l’injonction de l’Institut.

3 Il n’est pas obligatoire de signer la demande d’inscription au registre. L’Institut peut désigner d’autres documents qui ne doivent pas obligatoirement être signés.

Art. 2b7 Communication électronique

1 L’Institut peut autoriser la communication électronique.

2 Il détermine les modalités techniques et les publie de façon appropriée.

Art. 38 Taxes

L’ordonnance du 25 octobre 1995 sur les taxes de l’Institut fédéral de la Propriété intellectuelle9 s’applique aux taxes prévues par la LTo et par la présente ordonnance.

Section 2 Procédure de dépôt de la demande d’inscription

Art. 4 Pluralité de requérants

1 Lorsque plusieurs personnes demandent l’inscription d’une topographie, l’Institut peut exiger qu’elles désignent l’une d’elles ou une tierce personne pour assurer la représentation commune auprès de l’Institut.

2 Si, après injonction de l’Institut, aucun représentant n’a été désigné, la personne nommée la première dans la demande d’inscription assure la représentation commune.

Art. 5 Pièces d’identification

1 Les pièces nécessaires à l’identification et à la représentation concrète de la topographie sont les suivantes:

a.: dessins ou photographies de représentations (layouts) servant à fabriquer le produit semi-conducteur;
b.: dessins ou photographies de masques ou de parties de masques servant à fabriquer le produit semi-conducteur;
c.: dessins ou photographies de différentes couches du produit semi-conducteur.

6 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).7 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).8 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 25 oct. 1995, en vigueur depuis le 1er janv. 1996

(RO 1995 5156).9 [RO 1995 5174, 1997 773]. Voir actuellement le R du 28 avril 1997 sur les taxes de l’Institut Fédéral de la Propriété Intellectuelle (RS 232.148).

Topographies – O 231.21

2 En outre, des supports de données sur lesquels sont enregistrés des couches de la topographie sous une forme digitale ou leur tirage sur papier ainsi que le produit semi-conducteur lui-même peuvent également être déposés.

3 Les pièces doivent être produites en format A4 (21 × 29,7 cm) ou pliées à ce format. Les dessins, les plans ou les photographies de grande surface qui ne peuvent pas être pliées, doivent être déposés sous forme de rouleaux dont la longueur et le diamètre n’excèdent pas 1,5 m et 15 cm respectivement.

4 Dans la mesure où l’Institut accepte que les pièces d’identification lui soient remises par voie électronique (art. 2b), il peut définir des exigences qui s’écartent de celles énoncées dans le présent article; il publie celles-ci de façon appropriée.10

Art. 6 Demande d’inscription incomplète

1 L’Institut impartit un délai au déposant pour compléter sa demande d’inscription, lorsqu’elle est incomplète ou lacunaire.

2 L’Institut n’entre pas en matière lorsque la demande d’inscription n’a pas été rectifiée à l’expiration du délai.

Section 3 Registre des topographies

Art. 7 Contenu du registre L’Institut inscrit au registre les indications suivantes:

a.: le numéro d’enregistrement;
b.: la date de dépôt de la demande d’inscription;
c.: le nom ou la raison sociale ainsi que l’adresse du déposant ou de son successeur légal;
d.: le nom et l’adresse du producteur;
e.: la désignation de la topographie;
f.: la date et le lieu de l’éventuelle première mise en circulation commerciale de la topographie;

g.11: la date de la publication;
h.: le changement du domicile habituel ou de l’établissement commercial de l’ayant droit;
i.: les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée;
k.: la date de la radiation.

10 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). 11 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs,

en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).

231.21 Droit d’auteur

Art. 8 Dossier

L’Institut tient un dossier pour chaque topographie.

Art. 9 Secret de fabrication et d’affaires

1 Les documents remis à titre de preuve qui divulguent des secrets de fabrication ou d’affaires sont, sur demande, classés séparément lorsqu’ils sont versés au dossier.

2 Les pièces servant à l’identification de la topographie, mentionnées à l’art. 5, ne peuvent pas être dans leur totalité classées séparément.

3 Le dossier fait état de l’existence des documents classés séparément.

4 Après avoir entendu les ayants droit inscrits au registre, l’Institut décide d’autoriser ou non la consultation des documents classés séparément.

Art. 10 Attestation

Une fois l’enregistrement effectué, l’Institut délivre une attestation correspondante.

Art. 1112 Publication

1 L’Institut publie les indications inscrites au registre.

2 Il détermine l’organe de publication.

3 Sur demande et contre indemnisation des frais, il établit des copies sur papier de données publiées exclusivement sous forme électronique.13

4 …

Art. 12 Modification et radiation d’inscriptions enregistrées

1 et 2 …

3 Les modifications découlant d’un jugement entré en force ou les restrictions au pouvoir de disposition ordonnées par des tribunaux et des autorités chargées de l’exécution forcée sont enregistrées sur présentation d’une copie du jugement et d’une attestation d’entrée en force.16

4 Les modifications sont versées au dossier, inscrites au registre et attestées par l’Institut.

5 …

12 Nouvelle teneur selon le ch. 1 de l’annexe à l’O du 8 mars 2002 sur les designs,

en vigueur depuis le 1er juillet 2002 (RS 232.121).13 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).14 Abrogé par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037).15 Abrogés par le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, avec effet au 1er janv. 2007 (RO 2006 4477).16 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, en vigueur depuis le 1er janv. 2007

(RO 2006 4477).17 Introduit par le ch. I de l’O du 3 déc. 2004 (RO 2004 5037). Abrogé par le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, avec effet au 1er janv. 2007 (RO 2006 4477).

Topographies – O 231.21

Art. 13 Rectification

1 A la demande des ayants droit, les erreurs affectant l’enregistrement sont rectifiées sans retard.

2 Lorsque l’erreur est imputable à l’Institut, elle est rectifiée d’office.

Art. 1418 Extraits du registre

Sur demande, l’Institut établit des extraits du registre.

Art. 15 Conservation et restitution

1 L’Institut conserve les documents ainsi que les supports de données et les produits semi-conducteurs déposés pendant vingt ans à compter du dépôt de la demande d’inscription valable.

2 Les supports de données et les produits semi-conducteurs non réclamés à l’expiration du délai de conservation peuvent être restitués d’office. Lorsqu’il est impossible de trouver l’adresse des ayants droit, ils sont détruits en même temps que les documents.

Section 4 Intervention de l’Administration des douanes

Art. 1619 Domaine d’application

L’Administration des douanes est habilitée à intervenir en cas d’introduction sur le territoire douanier et de sortie dudit territoire de produits semi-conducteurs lorsqu’il y a lieu de soupçonner que la mise en circulation de ces produits contrevient à la législation suisse sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs.

Art. 17 Demande d’intervention

1 Le producteur ou le preneur de licence ayant qualité pour agir (requérant) doit présenter la demande d’intervention à la Direction générale des douanes.20

2 La demande est valable deux ans à moins qu’elle ait été déposée pour une période plus courte. Elle peut être renouvelée.

18 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 18 oct. 2006, en vigueur depuis le 1er janv. 2007(RO 2006 4477).

19 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

20 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

231.21 Droit d’auteur

Art. 1821 Rétention de produits semi-conducteurs

1 Lorsque le bureau de douane retient des produits semi-conducteurs, il les garde en dépôt contre perception d’un émolument ou confie cette tâche à un tiers au frais du requérant.

2 Il transmet au requérant le nom et l’adresse du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, une description précise et la quantité des produits semi-conducteurs retenus ainsi que le nom de l’expéditeur en Suisse ou à l’étranger desdits produits.

3 S’il s’avère, avant l’échéance des délais prévus à l’art. 77, al. 2 et 2bis de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur22, que le requérant ne pourra pas obtenir des mesures provisionnelles, le bureau de douane restitue les marchandises sans délai.

Art. 18a23 Echantillons

1 Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’Administration des douanes peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.

2 Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semiconducteurs.

Art. 18b24 Protection des secrets de fabrication et d’affaires

1 L’Administration des douanes informe le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi-conducteurs de la possibilité de refuser le prélèvement d’échantillons sur présentation d’une demande motivée. Elle lui impartit un délai raisonnable pour présenter cette demande.

2 Si l’Administration des douanes autorise le requérant à inspecter les produits semiconducteurs retenus, elle tient compte, pour fixer le moment de l’inspection, de manière appropriée des intérêts du requérant, d’une part, et de ceux du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, d’autre part.

21 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

RS 231.1

23 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

24 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

Topographies – O 231.21

Art. 18c25 Conservation des moyens de preuve en cas de destruction des produits semi-conducteurs

1 L’Administration des douanes conserve les échantillons prélevés durant un an à compter de la communication adressée au déclarant, au possesseur ou au propriétaire conformément à l’art. 77, al. 1 de la loi du 9 octobre 1992 sur le droit d’auteur26. Après expiration de ce délai, elle invite le déclarant, le possesseur ou le propriétaire à reprendre possession des échantillons ou à supporter les frais pour la poursuite de leur conservation. Si le déclarant, le possesseur ou le propriétaire ne donne pas suite à cette invitation ou s’il ne fait pas connaître sa décision dans les 30 jours, l’Administration des douanes détruit les échantillons.

2 Au lieu de prélever des échantillons, l’Administration des douanes peut faire des photographies des produits semi-conducteurs détruits pour autant que cette mesure permette de garantir la conservation des moyens de preuve.

Art. 1927 Emoluments

Les émoluments perçus pour l’intervention de l’Administration des douanes sont fixés dans l’ordonnance du 4 avril 2007 sur les émoluments de l’Administration fédérale des douanes28.

Section 5 Entrée en vigueur

Art. 20

La présente ordonnance entre en vigueur le 1er juillet 1993.

25 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

RS 231.1 27 Nouvelle teneur selon le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juillet 2008(RO 2008 2543).

RS 631.035

231.21 Droit d’auteur

231.21Ordinanza sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

del 26 aprile 1993 (Stato 1° luglio 2008)

Il Consiglio federale svizzero, visti gli articoli 2 capoverso 2, 12 e 18 della legge federale del 9 ottobre 19921 sulle topografie (LTo); visto l’articolo 13 della legge federale del 24 marzo 19952 sullo statuto e sui compiti dell’Istituto federale della proprietà intellettuale (LIPI),3

ordina:

Sezione 1: Disposizioni generali

Art. 1 Competenza 1 L’esecuzione dei compiti amministrativi derivanti dalla LTo, nonché l’esecuzione della presente ordinanza, sono di competenza dell’Istituto della proprietà intellet tuale (Istituto).4 2 Fanno eccezione l’articolo 12 LTo e gli articoli 16 a 19 della presente ordinanza, la cui esecuzione è di competenza dell’Amministrazione delle dogane.

Art. 2 Lingua 1 Gli scritti indirizzati all’Istituto5 devono essere redatti in una lingua ufficiale sviz zera. 2 L’Istituto può esigere una traduzione nonché un attestato di conformità entro una determinata scadenza per i documenti probatori che non sono stati redatti in una lingua ufficiale; se gli atti richiesti non vengono forniti, i documenti probatori sono considerati non pervenuti.

RU 1993 1834 1 RS 231.2 2 RS 172.010.31 3 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). 4 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 25 ott. 1995 , in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). 5 Espressione sostituita dal n. I dell’O del 25 ott. 1995, in vigore dal 1° gen. 1996

(RU 1995 5156). Di detta modificazione è stato tenuto conto in tutto il presente testo.

231.21 Proprietà intellettuale

Art. 2a6 Firma 1 Le domande e la documentazione devono essere firmate. 2 Mancando la firma legalmente valida su una domanda o un documento, la data di presentazione originaria è riconosciuta qualora una domanda o un documento identi co per contenuto e firmato sia fornito entro un mese dall’ingiunzione da parte dell’Istituto. 3 La firma sulla domanda d’iscrizione nel registro non è necessaria. L’Istituto può designare altri documenti per i quali non è necessaria la firma.

Art. 2b7 Comunicazione elettronica 1 L’Istituto può autorizzare la comunicazione elettronica. 2 Determina le modalità tecniche e le pubblica in modo adeguato.

Art. 38 Emolumenti Gli emolumenti esigibili giusta la LTo o la presente ordinanza si fondano sull’ordinanza del 25 ottobre 19959 sulle tasse dell’Istituto federale della proprietà intellettuale.

Sezione 2: Procedura di deposito della domanda d’iscrizione

Art. 4 Pluralità di richiedenti 1 Se più persone presentano una topografia, l’Istituto può invitarle a designare una di loro oppure una terza persona quale rappresentante comune. 2 Fintanto che non è designato alcun rappresentante nonostante l’invito dell’Istituto, è considerata rappresentante la prima persona figurante sulla domanda.

Art. 5 Documenti necessari all’identificazione 1 Ai fini dell’identificazione e della rappresentazione concreta della topografia sono ammessi i seguenti documenti:

a. disegni o fotografie di circuiti (layouts) per la produzione del prodotto a semiconduttori;

b. disegni o fotografie di maschere o parti di maschere per la produzione del prodotto a semiconduttori;

c. disegni o fotografie di singoli strati del prodotto a semiconduttori.

6 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 7 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 8 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 9 [RU 1995 5174, 1997 773]. Vedi ora Reg. del 28 apr. 1997 sulle tasse dell’Istituto

federale della proprietà intellettuale (RS 232.148).

Topografie – O 231.21

2 Possono pure essere depositati supporti di dati che riportano singoli strati della topografia in forma digitalizzata oppure la relativa stampa su carta, nonché il pro dotto a semiconduttori stesso. 3 I documenti devono essere presentati nel formato DIN A4 (21×29,7 cm) oppure così piegati. I disegni, i piani o le fotografie a vasta superficie che non possono esse re piegati vanno presentati in rotoli che non devono eccedere 1,5 m di lunghezza e 15 cm di diametro. 4 Nella misura in cui autorizza l’inoltro elettronico dei documenti necessari all’iden tificazione (art. 2b), l’Istituto può definire esigenze divergenti da quelle previste nel presente articolo; pubblica tali esigenze in modo adeguato.10

Art. 6 Domanda incompleta 1 L’Istituto concede al richiedente un termine per completare una domanda d’iscri zione incompleta o lacunosa. 2 Se alla scadenza del termine la domanda non è stata rettificata, l’Istituto non entra nel merito.

Sezione 3: Registro delle topografie

Art. 7 Contenuto del registro L’Istituto inscrive i dati seguenti nel registro:

a. il numero di registrazione; b. la data del deposito della domanda; c. il nome o la ragione sociale nonché l’indirizzo del richiedente o del suo

avente causa; d. il nome e l’indirizzo del produttore; e. la designazione della topografia; f. la data e il luogo dell’eventuale prima commercializzazione della topografia; g.11 la data della pubblicazione; h. i cambiamenti della dimora abituale o della sede commerciale degli aventi

diritto alla topografia; i. le restrizioni della facoltà di disporre ordinate dai tribunali o dalle autorità

cui compete l’esecuzione forzata; k. la data della radiazione.

10 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 11 Nuovo testo giusta il n. 1dell’all. all’’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002

(RS 232.121).

231.21 Proprietà intellettuale

Art. 8 Fascicolo dei documenti L’Istituto tiene un fascicolo per ogni topografia.

Art. 9 Segreto di fabbricazione e segreto d’affari 1 I documenti probatori messi agli atti, che rivelano segreti di fabbricazione o segreti d’affari, possono essere archiviati separatamente se ne è fatta richiesta. 2 I documenti che servono all’identificazione della topografia giusta l’articolo 5 non possono essere archiviati separatamente nella loro totalità. 3 Il fascicolo fa menzione dell’esistenza di documenti archiviati separatamente. 4 Dopo aver sentito gli aventi diritto alla topografia iscritti nel registro, l’Istituto decide se i documenti archiviati separatamente possono essere consultati o meno.

Art. 10 Attestato Una volta effettuata la registrazione, l’Istituto rilascia un attestato.

Art. 1112 Pubblicazione 1 L’Istituto pubblica i dati iscritti nel registro. 2 Esso designa l’organo di pubblicazione. 3 Su domanda e previo rimborso delle spese, l’Istituto esegue copie su carta dei dati pubblicati esclusivamente in forma elettronica.13

144 …

Art. 12 Modifica e radiazione di iscrizioni nel registro 151 e 2 …

3 Le modifiche determinate da una sentenza che ha forza esecutiva o da un provve dimento esecutivo, nonché le restrizioni della facoltà di disporre pronunciate da tribunali e autorità d’esecuzione sono iscritte fornendo una copia della sentenza con l’attestato relativo all’esecutività.16 4 Le modifiche sono riportate nel fascicolo, iscritte nel registro e attestate dall’Isti tuto.

175 …

12 Nuovo testo giusta il n. 1 dell’all. all’O dell’8 mar. 2002, in vigore dal 1° lug. 2002 (RS 232.121).

13 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 14 Abrogato dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). 15 Abrogati dal n. I dell’O del 18 ott. 2006, con effetto dal 1° gen. 2007 (RU 2006 4477). 16 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 18 ott. 2006, in vigore dal 1° gen. 2007

(RU 2006 4477). 17 Introdotto dal n. I dell’O del 3 dic. 2004 (RU 2004 5037). Abrogato dal n. I dell’O

del 18 ott. 2006, con effetto dal 1° gen. 2007 (RU 2006 4477).

Topografie – O 231.21

Art. 13 Rettifica 1 Gli errori di registrazione vengono rettificati senza indugio su richiesta dell’avente diritto alla topografia. 2 Qualora l’errore fosse imputabile all’Istituto, la rettifica viene effettuata d’ufficio.

Art. 1418 Estratti del registro L’Istituto rilascia estratti del registro su richiesta.

Art. 15 Conservazione e restituzione 1 L’Istituto conserva gli atti, nonché i supporti di dati e i prodotti a semiconduttori depositati per vent’anni a contare dalla data del deposito della domanda valevole. 2 I supporti di dati e i prodotti a semiconduttori di cui non viene richiesta la restitu zione dopo la scadenza del termine di conservazione possono essere restituiti d’ufficio. Qualora fosse impossibile stabilire l’indirizzo degli aventi diritto, gli oggetti depositati vengono distrutti insieme agli atti.

Sezione 4: Intervento dell’Amministrazione delle dogane

Art. 1619 Campo d’applicazione L’Amministrazione federale delle dogane è abilitata a intervenire in caso di introdu zione sul territorio doganale e all’asportazione da esso di prodotti a semiconduttori in merito ai quali esiste il sospetto che la messa in circolazione violi la legislazione vigente in Svizzera relativa alla protezione di topografie di prodotti a semicondut tori.

Art. 17 Domanda d’intervento 1 I produttori o i titolari di una licenza legittimati ad agire (richiedenti) devono presentare la domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane.20 2 La domanda ha effetto per due anni, a meno che all’atto del deposito sia stata fissa ta una durata inferiore. La domanda è rinnovabile.

18 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 18 ott. 2006, in vigore dal 1° gen. 2007 (RU 2006 4477).

19 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).

20 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).

231.21 Proprietà intellettuale

Art. 18 Ritenzione di prodotti a semiconduttori21 1 In caso di ritenzione di prodotti a semiconduttori, l’ufficio doganale li custodisce esso stesso contro pagamento di una tassa oppure li fa custodire da terzi a spese del richiedente. 2 L’ufficio doganale comunica al richiedente il nome e l’indirizzo del depositante, del detentore o del proprietario, una descrizione precisa, la quantità e il nome del mittente in Svizzera o all’estero dei prodotti a semiconduttori ritenuti. 3 Se già prima della scadenza del termine giusta l’articolo 77 capoverso 2, rispetti vamente 2bis della legge del 9 ottobre 199222 sul diritto d’autore è chiaro che il richiedente non può ottenere provvedimenti cautelari, l’ufficio doganale libera immediatamente i prodotti a semiconduttori.

Art. 18a23 Campioni 1 Il richiedente può chiedere la consegna o l’invio di campioni a scopo di esame oppure può chiedere di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti. Invece di campioni l’Amministrazione delle dogane può trasmettere al richiedente fotografie dei prodotti a semiconduttori ritenuti, se queste ne consentono l’esame. 2 La richiesta può essere presentata insieme alla domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane o, durante la ritenzione dei prodotti a semiconduttori, diretta mente all’ufficio doganale che trattiene i prodotti a semiconduttori.

Art. 18b24 Tutela dei segreti di fabbricazione e di affari 1 L’Amministrazione delle dogane informa il depositante, il detentore o il proprieta rio dei prodotti a semiconduttori della possibilità di presentare una richiesta motivata per rifiutare il prelievo di campioni. Per l’inoltro della richiesta essa stabilisce un termine adeguato. 2 Qualora l’Amministrazione delle dogane consenta al richiedente di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti, per stabilire il momento dell’esame tiene conto in maniera adeguata degli interessi del richiedente e del depositante, del detentore o del proprietario.

21 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).

22 RS 231.1 23 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008

(RU 2008 2543). 24 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008

(RU 2008 2543).

Topografie – O 231.21

Art. 18c25 Conservazione dei mezzi di prova in caso di distruzione dei prodotti a semiconduttori

1 L’Amministrazione delle dogane trattiene i campioni prelevati per un periodo di un anno dalla notifica del depositante, del detentore o del proprietario in virtù dell’ar ticolo 77 capoverso 1 della legge del 9 ottobre 199226 sul diritto d’autore. Allo scadere di tale termine l’Amministrazione delle dogane invita il depositante, il detentore o il proprietario a prendere in custodia i campioni, oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore. Qualora il depositante, il detentore o il proprie tario non sia disposto a prendere in custodia i campioni oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore, o se non si esprime entro 30 giorni, l’Am ministrazione delle dogane distrugge i campioni. 2 Invece di prelevare campioni l’Amministrazione delle dogane può fotografare i prodotti a semiconduttori distrutti, a condizione che ciò consenta di garantire la conservazione dei mezzi di prova.

Art. 1927 Emolumenti Gli emolumenti per l’intervento dell’Amministrazione delle dogane sono retti dall’ordinanza del 4 aprile 200728 sugli emolumenti dell’Amministrazione federale delle dogane.

Sezione 5: Entrata in vigore

Art. 20 La presente ordinanza entra in vigore il 1° luglio 1993.

25 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).

26 RS 231.1 27 Nuovo testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008

(RU 2008 2543). 28 RS 631.035

231.21 Proprietà intellettuale

Orden de 26 de abril de 1993 sobre la Protección de las Topografías de Productos Semiconductores (situación en fecha de 1 de julio de 2008), Suiza

Documentos disponibles

Ordonnance sur la protection des topographies de produitssemi-conducteurs

(Ordonnance sur les topographies, OTo)

Art. 2 Langue

RS 231.1